Logo BSU

Browsing "Материалы и структуры современной электроники" by Issue Date

Jump to a point in the index:
Showing results 1 to 20 of 873  next >
PreviewIssue DateTitleAuthor(s)
2006Материалы и структуры современной электроники: сб. науч. тр. II Междунар. науч. конф., Минск, 5-6 окт. 2006 г. / редкол. : В. Б. Оджаев (отв. ред.) [и др.]-
2008Особенности воздействия мощных лазерных импульсов на слои пористого кремнияРусецкий, М. С.; Казючиц, Н. М.; Ивлев, Г. Д.
2008Механизмы формирования и термическая стабильность вакансионно-кислородных нанокластеров в облученных кристаллах SiМурин, Л. И.
2008Дефектообразование в кремнии при нанесении металлопокрытий в условиях ионного ассистированияМихалкович, О. М.; Ташлыков, И. С.
2008Электрические свойства нанокомпозитов SiO2-y-Fe2O3Адакимчик, А. В.; Горбачук, Н. И.; Ивановская, М. И.; Котиков, Д. А.; Лукашевич, М. Г.; Сидоренко, Ю. В.
2008ЭПР-диагностика углеродных пленок, структурированных на стеклеАзарко, И. И.; Гончаров, В. К.; Гусаков, Г. А.; Карпович, И. А.; Оджаев, В. Б.; Пузырев, М. В.; Толстых, П. В.
2008Mechanism of hydrogen-related shallow donors formation in Ge(1-x)Si(x) crystals implanted with protonsPokotilo, Ju. М.; Petukh, А. N.; Litvinov, V. V.; Markevich, V. Р.; Peaker, А. R.; Abrosimov, N. А.
2008Токи утечки в p-n-переходах интегральных схем, изготовленных пошаговым методом ионного легированияПлебанович, В. И.; Оджаев, В. Б.; Васильев, Ю. Б.; Явид, В. Ю.; Челядинский, А. Р.
2008Электрически активные дефекты, содержащие вакансии и атомы кислорода в облученных кристаллах германияМаркевич, В. П.; Мурин, Л. И.; Литвинов, В. В.
2008Рекомбинационные свойства кремния, облученного ионами гелияТарасик, М. И.; Петлицкий, А. Н.; Соловьев, Я. А.; Федотов, А. К.; Янченко, А. М.
2008Поведение примесей сурьмы и фосфора в имплантированном кремнииБелоус, А. И.; Васильев, Ю. Б.; Емельянов, В. А.; Оджаев, В. Б.; Плебанович, В. И.; Садовский, П. К.; Челядинский, А. Р.
2008Electron irradiation effects in ерitaxial schottky barriersKorshunov, F. Р.; Marchenko, I. G.; Zhdanovich, N. Е.; Gurin, Р. М.
2008Структурные и электрофизические свойства тонких Si(1-x)Ge(x) пленок после имплантации В+ и последующего отжигаГайдук, П. И.; Гринько, С. Н.; Зайков, В. А.; Новиков, А. Г.; Наливайко, О. Ю.; Пшеничный, Е. Н.
2008Влияние пространственного квантования на ВАХ одноэлектронных структурАбрамов, И. И.; Баранов, А. Л.; Лавринович, А. М.; Пыжик, И. В.
2008Автоматизация измерении в лабораторном практикумеКарпович, И. А.; Сидоренко, Ю. В.; Фенюк, Т. К.; Янковский, О. Н.
2008Электрические характеристики пленок полиимида, имплантированных ионами немагнитных металловВолобуев, В. С.; Лукашевич, С. М.; Хайбуллин, Р. И.; Валеев, В. Ф.
2008Лазерно-плазменное осаждение диэлектрических алмазоподобных углеродных покрытийГончаров, В. К.; Гусаков, Г. А.; Исмаилов, Д. Р.; Крекотень, О. В.; Пузырев, М. В.
2008Наноструктурированные пленки металл-углерод на кремнии, сформированные торцевым эрозионным устройствомПунько, А. В.; Углов, В. В.; Квасов, Н. Т.
2008Система для выращивания углеродных нанотрубок методом CVDКарпович, В. Б.; Комаров, Ф. Ф.; Кожевко, А. Н.; Зайков, В. А.
2008Блочно-регулярное моделирование структуры углеродных нанотрубокВласов, А. Т.; Поклонский, Н. А.; Хиеу, Нгуен Нгок; Вырко, С. А.