Logo BSU

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/223423
Title: ЭПР-диагностика углеродных пленок, структурированных на стекле
Authors: Азарко, И. И.
Гончаров, В. К.
Гусаков, Г. А.
Карпович, И. А.
Оджаев, В. Б.
Пузырев, М. В.
Толстых, П. В.
Keywords: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Issue Date: 2008
Publisher: Минск : БГУ
Citation: Материалы и структуры современной электроники: сб. науч. тр. III Междунар. науч. конф., Минск, 25-26 сент. 2008 г. / редкол. : В. Б. Оджаев (отв. ред.) [и др.]. - Минск : БГУ, 2008. - С. 116-117
Abstract: В настоящее время темпы развития научно-технического прогресса постоянно требуют создания новых и перспективных материалов, а также улучшения свойств и характеристик уже имеющихся. Углеродные пленки, обладая радиационной стойко­стью и химической инертностью, хорошо зарекомендовали себя при использовании в инструментальной промышленности и микроэлектронике, удачно сочетая преиму­щества как алмаза, так и графита. Ранее осаждение углеродных покрытий проводилось для создания защитных и просветляющих покрытий в оптоэлектронике, а сегодня на первый план выходят проблемы формирования многофункциональных структур. Среди многообразия методик создания УП импульсное лазерное осаждение от­личается широким выбором начальных параметров осаждения, материала подложки и отсутствием ферромагнитных включений, характерных при синтезе с использова­нием металлов-катализаторов. Целью настоящей работы является изучение влияния структуры источника атомов углерода, а также плотности мощности излучения не­одимового лазера на парамагнитные свойства формируемых пленок.
URI: http://elib.bsu.by/handle/123456789/223423
ISBN: 978-985-518-091-4
Appears in Collections:2008. Материалы и структуры современной электроники

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
116-117.pdf386,35 kBAdobe PDFView/Open


PlumX

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.