Электронная библиотека БГУ: Search

Issue Date Author Title Subject

Search

Search:
for

Current filters:

Start a new search

Add filters:

Results/Page | Sort items by In order Authors/record

Results 1-10 of 15 (Search time: 0.0 seconds).

previous
1
2
next

Item hits:

Preview	Issue Date	Title	Author(s)
	2003	Влияние гамма-излучения на накопление заряда в МОП-структурах при различных условиях	Богатырев, Ю. В.; Коршунов, Ф. П.; Ластовский, С. Б.; Кульгачев, В. И.
	2016	Радиационное воздействие на параметры счетного триггера	Богатырев, Ю. В.; Ластовский, С. Б.; Чеховский, В. А.; Огородников, Д. А.; Темирбулатов, М. С.; Эннс, В. И.
	2012	ВЛИЯНИЕ ИОНИЗИРУЮЩЕЙ РАДИАЦИИ НА СУБМИКРОННЫЕ МОП-ТРАНЗИСТОРЫ	Богатырев, Ю. В.; Коршунов, Ф. П.; Ластовский, С. Б.; Турцевич, А. С.; Шведов, С. В.; Белоус, А. И.
	2014	Исследование защитных свойств экранов на основе композита W-Cu для изделий электронной техники от протонов радиационных поясов Земли	Якушевич, А. С.; Ластовский, С. Б.; Богатырев, Ю. В.; Грабчиков, С. С.; Василенков, Н. А.
	2010	Радиационные эффекты в МОП/КНИ структурах	Коршунов, Ф. П.; Богатырев, Ю. В.; Ластовский, С. Б.; Карась, В. И.; Малышев, В. С.; Сорока, С. А.; Шведов, С. В.
	2010	Изменения параметров кремниевых p-n-структур, облученных быстрыми электронами при температурах 670-720 к	Коршунов, Ф. П.; Богатырев, Ю. В.; Карась, В. И.; Ластовский, С. Б.; Мурин, Л. И.; Маркевич, В. П.
	2008	Влияние электронного облучения при 300 / 800 К на параметры кремниевых p-n-структур	Коршунов, Ф. П.; Богатырев, Ю. В.; Ластовский, С. Б.; Маркевич, В. П.; Мурин, Л. И.; Шпаковский, С. В.
	2007	Влияние отжига радиационных дефектов на характеристики n+-р- структур на Si1-xGex:B	Коршунов, Ф. П.; Богатырев, Ю. В.; Ластовский, С. Б.; Мурин, Л. И.; Маркевич, В. П.; Абросимов, Н. В.
	2018	Моделирование накопления заряда в облученных МОП/КНИ транзисторах	Огородников, Д. А.; Богатырев, Ю. В.; Ластовский, С. Б.
	2020	Радиационностойкие электронные компоненты для космической техники	Богатырев, Ю. В.; Кетько, А. В.; Ластовский, С. Б.; Лозицкий, Е. Г.; Огородников, Д. А.; Пиловец, С. А.; Шпаковский, С. В.