Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/223454
Заглавие документа: Влияние отжига радиационных дефектов на характеристики n+-р- структур на Si1-xGex:B
Авторы: Коршунов, Ф. П.
Богатырев, Ю. В.
Ластовский, С. Б.
Мурин, Л. И.
Маркевич, В. П.
Абросимов, Н. В.
Тема: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Дата публикации: 2007
Издатель: Минск : Изд. центр БГУ
Библиографическое описание источника: Взаимодействие излучений с твердым телом = Interaction of radiation witli solids : материалы 7-й Междунар. конф., Минск, 26-28 сент. 2007 г. / редкол. В. М. Анищик (отв. ред.) [и др.]. — Минск : Изд. центр БГУ, 2007. — С. 119-121.
Аннотация: Рассмотрено влияние изохронного отжига на время жизни неосновных носителей заряда (т) и прямое падение напряжения (Unp) в облученных электронами с энергией 4 МэВ диодных n+-p-структурах, изготовленных на сплавах Si1-xGex:В. Методом релаксационной емкостной спектроскопии (DLTS) определены доминирующие радиационные дефекты и температура их отжига. Установлена корреляция между восстановлением величин т и Unp и уменьшением концентрации радиационных дефектов при отжиге.
URI документа: http://elib.bsu.by/handle/123456789/223454
ISBN: 978-985-476-530-3
Располагается в коллекциях:2007. Взаимодействие излучений с твердым телом

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
119-121.pdf618,59 kBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.