Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/223454Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Коршунов, Ф. П. | - |
| dc.contributor.author | Богатырев, Ю. В. | - |
| dc.contributor.author | Ластовский, С. Б. | - |
| dc.contributor.author | Мурин, Л. И. | - |
| dc.contributor.author | Маркевич, В. П. | - |
| dc.contributor.author | Абросимов, Н. В. | - |
| dc.date.accessioned | 2019-07-11T07:57:32Z | - |
| dc.date.available | 2019-07-11T07:57:32Z | - |
| dc.date.issued | 2007 | - |
| dc.identifier.citation | Взаимодействие излучений с твердым телом = Interaction of radiation witli solids : материалы 7-й Междунар. конф., Минск, 26-28 сент. 2007 г. / редкол. В. М. Анищик (отв. ред.) [и др.]. — Минск : Изд. центр БГУ, 2007. — С. 119-121. | ru |
| dc.identifier.isbn | 978-985-476-530-3 | - |
| dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/223454 | - |
| dc.description.abstract | Рассмотрено влияние изохронного отжига на время жизни неосновных носителей заряда (т) и прямое падение напряжения (Unp) в облученных электронами с энергией 4 МэВ диодных n+-p-структурах, изготовленных на сплавах Si1-xGex:В. Методом релаксационной емкостной спектроскопии (DLTS) определены доминирующие радиационные дефекты и температура их отжига. Установлена корреляция между восстановлением величин т и Unp и уменьшением концентрации радиационных дефектов при отжиге. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.publisher | Минск : Изд. центр БГУ | ru |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | ru |
| dc.title | Влияние отжига радиационных дефектов на характеристики n+-р- структур на Si1-xGex:B | ru |
| dc.type | conference paper | ru |
| Располагается в коллекциях: | 2007. Взаимодействие излучений с твердым телом | |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 119-121.pdf | 618,59 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.