Logo BSU

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/7510
Title: Физические основы надежности микро- и наносистем : курс лекций / А. Н. Сетун; БГУ, Факультет радиофизики и компьютерных технологий
Authors: Сетун, А. Н.
Keywords: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Issue Date: 27-Apr-2012
Abstract: Проблема надежности в электронике возникла в начале пятидесятых годов, когда развитие техники привело к необходимости создания сложной радиоэлектронной аппаратуры. Возросшее значение проблемы качества и надежности было обусловлено: - быстрым развитием науки и техники в электронике, аппаратостроении, авиа- и ракетостроении, приборостроении, машиностроении и др.; - усложнением производственного процесса вследствие применения современного оборудования, средств механизации и автоматизации; - расширением отраслевой, межотраслевой и международной специализации и кооперации; - расширением объемов и номенклатуры производства, увеличением числа предприятий, выпускающих однотипные изделия.
URI: http://elib.bsu.by/handle/123456789/7510
Appears in Collections:Кафедра физической электроники и нанотехнологий (пособия)

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
Лекция ОН1.docЛекция №1113,5 kBMicrosoft WordView/Open
Лекция ОН2.docЛекция №2273 kBMicrosoft WordView/Open
Лекция ОН3.docЛекция №3248 kBMicrosoft WordView/Open
Лекция ОН4.docЛекция №4203,5 kBMicrosoft WordView/Open
Лекция ОН5.docЛекция №5282,5 kBMicrosoft WordView/Open
Лекция ОН6.docЛекция №6199,5 kBMicrosoft WordView/Open
Лекция ОН7.docЛекция №7338 kBMicrosoft WordView/Open
Лекция ОН8.docЛекция №896 kBMicrosoft WordView/Open
Лекция ОН9.docЛекция №9153 kBMicrosoft WordView/Open
Лекция ОН10.docЛекция №10130,5 kBMicrosoft WordView/Open
Лекция ОН11.docЛекция №11253 kBMicrosoft WordView/Open
Лекция ОН12.docЛекция №1264 kBMicrosoft WordView/Open
Лекция ОН13.docЛекция №13118,5 kBMicrosoft WordView/Open
Лекция ОН14.docЛекция №14153,5 kBMicrosoft WordView/Open
Лекция ОН15.docЛекция №15254 kBMicrosoft WordView/Open
Лекция ОН16.docЛекция №16785,5 kBMicrosoft WordView/Open
Лекция ОН17.docЛекция №17217 kBMicrosoft WordView/Open
Литература ОН.docЛитература33,5 kBMicrosoft WordView/Open
Оглавления ОН.docОглавления46,5 kBMicrosoft WordView/Open
Show full item record Google Scholar



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.