Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/7510
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorСетун, А. Н.-
dc.date.accessioned2012-04-27T06:25:02Z-
dc.date.available2012-04-27T06:25:02Z-
dc.date.issued2012-04-27-
dc.identifier.urihttp://elib.bsu.by/handle/123456789/7510-
dc.description.abstractПроблема надежности в электронике возникла в начале пятидесятых годов, когда развитие техники привело к необходимости создания сложной радиоэлектронной аппаратуры. Возросшее значение проблемы качества и надежности было обусловлено: - быстрым развитием науки и техники в электронике, аппаратостроении, авиа- и ракетостроении, приборостроении, машиностроении и др.; - усложнением производственного процесса вследствие применения современного оборудования, средств механизации и автоматизации; - расширением отраслевой, межотраслевой и международной специализации и кооперации; - расширением объемов и номенклатуры производства, увеличением числа предприятий, выпускающих однотипные изделия.ru
dc.language.isoruru
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физикаru
dc.titleФизические основы надежности микро- и наносистем : курс лекций / А. Н. Сетун; БГУ, Факультет радиофизики и компьютерных технологийru
dc.typelecture-
Располагается в коллекциях:Кафедра физической электроники и нанотехнологий (пособия)

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
Лекция ОН1.docЛекция №1113,5 kBMicrosoft WordОткрыть
Лекция ОН2.docЛекция №2273 kBMicrosoft WordОткрыть
Лекция ОН3.docЛекция №3248 kBMicrosoft WordОткрыть
Лекция ОН4.docЛекция №4203,5 kBMicrosoft WordОткрыть
Лекция ОН5.docЛекция №5282,5 kBMicrosoft WordОткрыть
Лекция ОН6.docЛекция №6199,5 kBMicrosoft WordОткрыть
Лекция ОН7.docЛекция №7338 kBMicrosoft WordОткрыть
Лекция ОН8.docЛекция №896 kBMicrosoft WordОткрыть
Лекция ОН9.docЛекция №9153 kBMicrosoft WordОткрыть
Лекция ОН10.docЛекция №10130,5 kBMicrosoft WordОткрыть
Лекция ОН11.docЛекция №11253 kBMicrosoft WordОткрыть
Лекция ОН12.docЛекция №1264 kBMicrosoft WordОткрыть
Лекция ОН13.docЛекция №13118,5 kBMicrosoft WordОткрыть
Лекция ОН14.docЛекция №14153,5 kBMicrosoft WordОткрыть
Лекция ОН15.docЛекция №15254 kBMicrosoft WordОткрыть
Лекция ОН16.docЛекция №16785,5 kBMicrosoft WordОткрыть
Лекция ОН17.docЛекция №17217 kBMicrosoft WordОткрыть
Литература ОН.docЛитература33,5 kBMicrosoft WordОткрыть
Оглавления ОН.docОглавления46,5 kBMicrosoft WordОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.