Logo BSU

Поиск


Текущие фильтры:


Начать новый поиск
Добавить фильтры:

Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.


Результаты 11-20 из 24.
Найденные документы:
Предварительный просмотрДата выпускаЗаглавиеАвтор(ы)
2012ВЛИЯНИЕ ИОНИЗИРУЮЩЕЙ РАДИАЦИИ НА СУБМИКРОННЫЕ МОП-ТРАНЗИСТОРЫБогатырев, Ю. В.; Коршунов, Ф. П.; Ластовский, С. Б.; Турцевич, А. С.; Шведов, С. В.; Белоус, А. И.
2012ТЕРМИЧЕСКАЯ УСТОЙЧИВОСТЬ ДЕФЕКТОВ МЕЖДОУЗЕЛЬНОГО ТИПА В КРЕМНИИ И КРЕМНИЙ-ГЕРМАНИЕВЫХ СПЛАВАХ, ЛЕГИРОВАННЫХ БОРОММакаренко, Л. Ф.; Коршунов, Ф. П.; Ластовский, С. Б.; Абросимов, Н. В.
2019Рекомбинационно-стимулированные процессы взаимодействия междоузельных дефектов в кремнии, облученном альфа-частицамиМакаренко, Л. Ф.; Ластовский, С. Б.; Якушевич, А. С.; Молл, М.; Пинтилие, И.; Гаубас, Э.; Павлов, Е. А.
2019Влияние флюенса ускоренных электронов на парамагнитные свойства НРНТ алмазовАзарко, И. И.; Карпович, И. А.; Игнатенко, О. В.; Коновалова, А. В.; Ластовский, С. Б.; Комар, В. А.
2019Радиационная стойкость кремниевых детекторов излученияПокотило, Ю. М.; Петух, А. Н.; Свито, И. А.; Ластовский, С. Б.; Гиро, А. В.; Шестовский, Д. В.
2018Влияние температуры облучения (Тобл = 80–700 К) быстрыми электронами и γ-квантами 60 Со на эффективность формирования радиационных дефектов в кремнии p-типаМедведева, И. Ф.; Мурин, Л. И.; Маркевич, В. П.; Ластовский, С. Б.; Фадеева, Е. А.
2018Моделирование накопления заряда в облученных МОП/КНИ транзисторахОгородников, Д. А.; Богатырев, Ю. В.; Ластовский, С. Б.
2014Инжекционный отжиг радиационно-индуцированного комплекса междоузельный бор-междоузельный кислород в кремниевых n+-p диодахЛастовский, С. Б.; Коршунов, Ф. П.; Якушевич, А. С.; Латушко, Я. И.; Макаренко, Л. Ф.
2020Радиационные эффекты в кремниевых фотоэлектронных умножителяхОгородников, Д. А.; Богатырев, Ю. В.; Кетько, А. В.; Ластовский, С. Б.; Лемешевская, А. М.; Цымбал, В. С.
2020Радиационностойкие электронные компоненты для космической техникиБогатырев, Ю. В.; Кетько, А. В.; Ластовский, С. Б.; Лозицкий, Е. Г.; Огородников, Д. А.; Пиловец, С. А.; Шпаковский, С. В.