Logo BSU

Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники (статьи) : [276] Главная страница коллекции Статистика

Ресурсы коллекции (Сортировка по Дата поступления в По убыванию порядке): 21 по 40 из 276
Предварительный просмотрДата выпускаЗаглавиеАвтор(ы)
2025Calculation of the activation energy of electrical ε2-conductivity of weakly compensated semiconductorsPoklonski, N. A.; Anikeev, I. I.; Vyrko, S. A.; Zabrodskii, A. G.
2025Activation energy of DC hopping conductivity of lightly doped weakly compensated crystalline semiconductorsPoklonski, N. A.; Anikeev, I. I.; Vyrko, S. A.; Zabrodskii, A. G.
2025Raman activity, piezoelectric response, and carrier mobility in two-dimensional Janus TiGeZ3H (Z = N, P, As) semiconductors: A first-principles predictionKartamyshev, A. I.; Hieu, N. N.; Poklonski, N. A.; Hieu, N. V.; Vu, T. V.; Lavrentyev, A. A.; Phuc, H. V.
2025The Influence of Ƴ-Irradiation on the Electrophysical Parameters of Nickel-Doped Silicon Grown by the Czochralski MethodIliev, M.; Ismailov, K. A.; Kosbergenov, E. Zh.; Odzhaev, V. B.; Prosolovich, V. S.; Yankovsky, Yu. N.; Kenzhaev, Z. T.; Isakov, B. O.; Kushiev, G. A.
2025Влияние γ-облучения на электрофизические параметры кремния, легированного никелем при выращивании методом ЧохральскогоИлиев, Х. М.; Исмайлов, К. А.; Косбергенов, Е. Ж.; Оджаев, В. Б.; Просолович, В. С.; Янковский, Ю. Н.; Кенжаев, З. Т.; Исаков, Б. О.; Кушиев, Г. А.
2025Шумовые диоды с температурной компенсацией напряжения электрического пробояЛатий, О. О.; Буслюк, В. В.; Дереченник, С. С.; Емельянов, В. А.; Кочергина, О. В.; Оджаев, В. Б.; Просолович, В. С.; Янковский, Ю. С.; Черный, В. В.
2025Ионное травление фенолформальдегидных фоторезистов для обратной литографииАбрамов, С. А.; Бринкевич, Д. И.; Просолович, В. С.; Зубова, О. А.; Черный, В. В.; Вабищевич, С. А.
2025Вольт-амперные характеристики P-I-N-фотодиодов с геттерами, созданными ионной имплантацией сурьмыОджаев, В. Б.; Петлицкий, А. Н.; Просолович, В. С.; Шестовский, Д. В.; Явид, В. Ю.; Янковский, Ю. Н.; Исмайлов, Б. К.; Кенжаев, З. Т.; Черный, В. В.
2025Stabilizing Treatment of Negative Photoresist Films of the AZ nLOF20XX Series on SiliconProsolovich, V. S.; Brinkevich, D. I.; Grinyuk, E. V.; Yankovskii, Yu. N.; Zubova, O. A.; Brinkevich, S. D.; Vabishchevich, S. A.
2025Оптические свойства облученных γ-квантами 60Со структур DLC/полиимидХарченко, А. А.; Бринкевич, Д. И.; Зур, И. А.; Федотова, Ю. А.; Шманай, Е. Е.; Мицкевич, Е. Д.; Бринкевич, С. Д.; Вабищевич, С. А.; Бурый, Е. Д.; Ластовский, С. Б.
2025P-I-N-фотодиоды с геттерами, созданными ионной имплантацией основных легирующих примесейОджаев, В. Б.; Петлицкий, А. Н.; Просолович, В. С.; Шестовский, Д. В.; Явид, В. Ю.; Янковский, Ю. Н.; Исмайлов, Б. К.; Кенжаев, З. Т.; Вабищевич, Н. В.
2025Методы температурной компенсации напряжения электрического пробоя шумовых диодовЛатий, О. О.; Буслюк, В. В.; Дереченник, С. С.; Емельянов, В. А.; Оджаев, В. Б.; Кочергина, О. В.; Просолович, В. С.; Янковский, Ю. Н.
2025Физико-механические свойства пленок негативных фоторезистов KMP E3502 на кремнииВабищевич, С. А; Бринкевич, Д. И.; Просолович, В. С.; Бринкевич, С. Д.; Зубова, О. А.; Вабищевич, Н. В.
2025Элементный состав негативных фоторезистов для обратной литографииАбрамов, С. А.; Бринкевич, Д. И.; Просолович, В. С.; Вабищевич, С. А.; Зубова, О. А.
2025Restriction of macroscopic structural superlubricity due to structure relaxation by the example of twisted graphene bilayerMinkin, A.S.; Lebedeva, I.V.; Popov, A.M.; Vyrko, S.A.; Poklonski, N.A.; Lozovik, Yu.E.
2025Engineering NV Centers via Hydrogen-Driven Defect Chemistry in CVD Diamonds for Quantum Applications: NVHx Dissociations into NV, Origin of 468nm Center, and Cause of Brown ColorationMansoor, Mubashir; Czelej, K.; Magaña, S. E.; Mansoor, Mehya; Salci, R.; Mansoor, Maryam; Linzmeyer, T.; Sorkhe, Y.; Moe, K. S.; Özyildirim, Ö.; Kitajima, K.; Sarsil, M. A.; Erol, T.; Hamamci, G.; Ergen, O.; Kurt, A.; Akhavan, A. A.; Er, Z.; Rubanov, S.; Kazuchits, N. M.; Gokce, A.; Davies, N.; Timur, S.; Prawer, S.; Zaitsev, A. M.; Ürgen, M.
2025Индентирование пленок негативных фоторезистов для обратной литографииВабищевич, С. А.; Бринкевич, Д. И.; Просолович, В. С.; Зубова, О. А.; Танана, О. В.; Вабищевич, Н. В.; Исмайлов, Б. К.
2025Пленки негативного фоторезиста AZ nLOF 5510, облученные электронамиАбрамов, С. А.; Бринкевич, Д. И.; Просолович, В. С.; Зубова, О. А.; Вабищевич, С. А.; Вабищевич, Н. В.; Кенжаев, Зоир Тохир угли; Ластовский, С. Б.
2025Radiation-Induced Processes in Electron-Irradiated Films of Negative Phenol-Formaldehyde Photoresist on SiliconBrinkevich, D. I.; Grinyuk, E. V.; Brinkevich, S. D.; Prosolovich, V. S.; Yankovskii, Yu. N.; Kolos, V. V.; Zubova, O. A.; Lastovskii, S. B.
2025Отражательно-абсорбционная ИК Фурье-спектроскопия фоторезистивных плёнок на кремнииБринкевич, Д. И.; Гринюк, Е. В.; Просолович, В. С.; Бринкевич, С. Д.; Колос, В. В.; Зубова, О. А.
Ресурсы коллекции (Сортировка по Дата поступления в По убыванию порядке): 21 по 40 из 276