Logo BSU

Browsing "2014. Материалы и структуры современной электроники" by Subject ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика

Jump to: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z

А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я

or enter first few letters:  
Showing results 1 to 10 of 87
PreviewIssue DateTitleAuthor(s)
2014Advanced pulse EPR study of natural Mongolian coalsMunkhtsetseg, S.; Lapchuk, N. M.; Poklonski, N. A.; Gorbachuk, N. I.; Tsookhuu, Kh.; Shilagardi, G.; Tsogbadrakh, N.; Lapchuk, T. M.
2014CW EPR study of natural Mongolian coalsMunkhtsetseg, S.; Lapchuk, N. M.; Poklonski, N. A.; Gorbachuk, N. I.; Tsookhuu, Kh.; Shilagardi, G.; Tsogbadrakh, N.; Oleshkevich, A. N.
2014Device-process simulation of silicon diode structures by various parameters of epitaxial filmLagunovich, N. L.; Borzdov, V. M.; Turtsevich, A. S.
2014Electrophysical properties of TiAlN coatings prepared using controlled reactive magnetron sputteringKlimovich, I. M.; Zaikov, V. V.; Komarov, F. F.; Romanov, I. A.; Pilko, V. V.; Ludchik, O. R.
2014Impedance of functionalized CNT/epoxy resin compositesKsenevich, V. K.; Gorbachuk, N. I.; Viet, Ho; Wieck, A. D.; Kuzhir, P. P.; Bellucci, S.
2014Nanoscale ceramic materials for power-efficient semiconductor gas sensors for carbon dioxide detectionKhort, A. A.; Dyatlova, E. M.
2014Анализ методов маскирования и исследование поведения бокового ухода под маску при локальном толстослойном анодировании AlШиманович, Д. Л.; Сокол, В. А.
2014Быстрая термическая обработка в технологических процессах синтеза дисилицида титана в модификациях С54 и С49 в системе TiN/Ti/SiМаркевич, М. И.; Турцевич, А. С.; Стельмах, В. Ф.; Першукевич, П. П.; Чапланов, А. М.
2014Влияние водородной обработки на структурные свойства пленок Si / SiGe, выращенных методом химического осаждения из газовой фазы при низком давленииНовиков, А. Г.; Зайков, В. А.; Прокопьев, С. Л.; Наливайко, О. Ю.; Гайдук, П. И.
2014Влияние кристаллической структуры на ширину запрещенной зоны Nb2O5Мигас, Д. Б.; Филонов, А. Б.; Борисенко, В. Е.