Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/48783
Title: | ЗАРЯДОВЫЕ СВОЙСТВА МДП-СТРУКТУР НА ОСНОВЕ ОКСИДА ДИСПРОЗИЯ С НАНОКРИСТАЛЛАМИ КРЕМНИЯ |
Authors: | Бабушкина, Н. В. Малышев, С. А. Ковалевский, А. А. Жигулин, Д. В. Романова, Л. И. |
Keywords: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
Issue Date: | 2010 |
Publisher: | Издательский центр БГУ |
Citation: | Материалы и структуры современной электроники: сб. науч. тр. IV Междунар. науч. конф., Минск, 23–24 окт. 2010 г. / редкол.: В.Б. Оджаев (отв. ред.) [и др.].— Мн.: БГУ, 2010. С. 12-15. |
Abstract: | В данной работе проведено исследование зарядовых свойств МДП-структур с пленками оксида диспрозия в качестве туннельного и запирающего диэлектриков и нанокристаллами поликристаллического кремния, легированного германием, для энергонезависимых элементов памяти. |
URI: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/48783 |
ISBN: | 978-985-476-885-4 |
Sponsorship: | Министерство образования Республики Беларусь; Белорусский государственный университет; Белорусский республиканский фонд фундаментальных исследований |
Appears in Collections: | 2010. Материалы и структуры современной электроники |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
Н.В. Бабушкина, С.А. Малышев, А.А. Ковалевский, Д.В. Жигулин.pdf | 218,25 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.