Logo BSU

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/329574
Title: Исследование воздействия электронного облучения на напряжение пробоя биполярных транзисторов
Other Titles: Study of the influence of electron irradiation on breakdown voltage of bipolar transistors / D. N. Zhdanovich, N. E. Zhdanovich, S. B. Lastovskii, I. F. Medvedeva, S. V. Shpakovsky
Authors: Жданович, Д. Н.
Жданович, Н. Е.
Ластовский, С. Б.
Медведева, И. Ф.
Шпаковский, С. В.
Keywords: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Issue Date: 2025
Publisher: Минск : БГУ
Citation: Материалы и структуры современной электроники : материалы XI Междунар. науч. конф., Минск, 16–18 окт. 2024 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2025. – С. 252-257.
Abstract: Приводятся результаты исследования воздействия электронного облучения в диапазоне флюенсов 1·10 14 –2·10 15 см -2 и температур эксплуатации в диапазоне 120–420 К на напряжение пробоя комплиментарных n–p–n- и p–n–p-транзисторов при разных токах насыщения коллектора в схеме с общим эмиттером. Также методом спектроскопии DLTS определены электронные характеристики радиационно-индуцированных центров (РИЦ), вводимых облучением быстрыми электронами в коллекторную и эмиттерную области кремниевых n–p–n-транзисторов
Abstract (in another language): The results of the study of the influence of electron irradiation in the fluence range of 1·10 14 –2·10 15 cm-2 and operating temperatures in the range of 120–420 K on the breakdown voltage of complementary n–p–n- and p–n–p-transistors at different collector saturation currents in a circuit with a common emitter are presented. Additionally, the electronic characteristics of radiation-induced centers (RIC) introduced by fast electron irradiation into the collector and base regions of silicon n–p–n-transistors were determined by DLTS spectroscopy
Description: Дефектно-примесная инженерия. Радиационные эффекты в полупроводниках
URI: https://elib.bsu.by/handle/123456789/329574
ISBN: 978-985-881-739-8
Licence: info:eu-repo/semantics/openAccess
Appears in Collections:2024. Материалы и структуры современной электроники

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
252-257.pdf488,06 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.