Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/31696| Заглавие документа: | Интенсивности рассеяния вторичных дырок в w-канале кремниевых субмикронных МОП-транзисторов |
| Авторы: | Борздов, В. М. Галенчик, В. О. Жевняк, О. Г. Комаров, Ф. Ф. Зезюля, А. В. |
| Тема: | ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехника |
| Дата публикации: | 2003 |
| Издатель: | БГУ |
| Библиографическое описание источника: | Радиофизика и электроника |
| Серия/Номер: | Выпуск 6; |
| URI документа: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/31696 |
| Располагается в коллекциях: | Радиофизика и электроника. Выпуск 6 |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.