Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/31696| Title: | Интенсивности рассеяния вторичных дырок в w-канале кремниевых субмикронных МОП-транзисторов |
| Authors: | Борздов, В. М. Галенчик, В. О. Жевняк, О. Г. Комаров, Ф. Ф. Зезюля, А. В. |
| Keywords: | ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехника |
| Issue Date: | 2003 |
| Publisher: | БГУ |
| Citation: | Радиофизика и электроника |
| Series/Report no.: | Выпуск 6; |
| URI: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/31696 |
| Appears in Collections: | Радиофизика и электроника. Выпуск 6 |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.