Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: http://elib.bsu.by/handle/123456789/31696
Заглавие документа: Интенсивности рассеяния вторичных дырок в w-канале кремниевых субмикронных МОП-транзисторов
Авторы: Борздов, В. М.
Галенчик, В. О.
Жевняк, О. Г.
Комаров, Ф. Ф.
Зезюля, А. В.
Тема: ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехника
Дата публикации: 2003
Издатель: БГУ
Библиографическое описание источника: Радиофизика и электроника
Серия/Номер: Выпуск 6;
URI документа: http://elib.bsu.by/handle/123456789/31696
Располагается в коллекциях:2003. Радиофизика и электроника

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
031.pdf203,9 kBAdobe PDFОткрыть


Интенсивности рассеяния вторичных дырок в w-канале кремниевых субмикронных МОП-транзисторов

Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.