Logo BSU

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/31696
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorБорздов, В. М.-
dc.contributor.authorГаленчик, В. О.-
dc.contributor.authorЖевняк, О. Г.-
dc.contributor.authorКомаров, Ф. Ф.-
dc.contributor.authorЗезюля, А. В.-
dc.date.accessioned2013-02-05T10:51:53Z-
dc.date.available2013-02-05T10:51:53Z-
dc.date.issued2003-
dc.identifier.citationРадиофизика и электроникаru
dc.identifier.urihttp://elib.bsu.by/handle/123456789/31696-
dc.language.isoruru
dc.publisherБГУru
dc.relation.ispartofseriesВыпуск 6;-
dc.subjectЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехникаru
dc.titleИнтенсивности рассеяния вторичных дырок в w-канале кремниевых субмикронных МОП-транзисторовru
Appears in Collections:Радиофизика и электроника. Выпуск 6

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
031.pdf203,9 kBAdobe PDFView/Open
Show simple item record Google Scholar



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.