Logo BSU

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/257308
Title: Свойства поверхности тонких пленок эвтектического композита InSb-FeSb
Other Titles: Surface properties of thin films eutectic composite InSb-FeSb / S. M. Baraishuk A. I. Turavets, O. M. Mikhalkovich, R. N. Rahimov, V. K. Dolgiy, D. G. Arasly, A. A. Khalilova
Authors: Барайшук, С. М.
Туравец, А. И.
Михалкович, О. М.
Рагимов, Р. Н.
Долгий, В. К.
Араслы, Д. Г.
Халилова, А. А.
Keywords: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Issue Date: 2020
Publisher: Минск : БГУ
Citation: Материалы и структуры современной электроники : материалы IX Междунар. науч. конф., Минск, 14–16 окт. 2020 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2020. – С. 21-25.
Abstract: Методом «мгновенного испарения» получены тонкие пленки полупроводникового эвтектического композита InSb-FeSb. Изучены микроструктура, рельеф поверхности, определен элементный состав. Распределение атомов In, Sb и Fe равномерное и соответствует стехиометрическому составу. Подтверждена равномерность нанесения покрытий, оценена толщина наносимого покрытия методом атомно-силовой микроскопии
Abstract (in another language): Thin films of the InSb-FeSb semiconductor eutectic composite were obtained by the "flash evaporation" method. The microstructure and surface relief have been studied, and the elemental composition has been determined. The distribution of In, Sb and Fe atoms is uniform and corresponds to the stoichiometric composition. The uniformity of coating was confirmed, the thickness of the applied coating was estimated by atomic force microscopy
Description: Свойства, диагностика и применение полупроводниковых материалов и структур на их основе
URI: https://elib.bsu.by/handle/123456789/257308
ISBN: 978-985-881-073-3
Appears in Collections:2020. Материалы и структуры современной электроники

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
21-25.pdf1,27 MBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.