Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/257308Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Барайшук, С. М. | |
| dc.contributor.author | Туравец, А. И. | |
| dc.contributor.author | Михалкович, О. М. | |
| dc.contributor.author | Рагимов, Р. Н. | |
| dc.contributor.author | Долгий, В. К. | |
| dc.contributor.author | Араслы, Д. Г. | |
| dc.contributor.author | Халилова, А. А. | |
| dc.date.accessioned | 2021-03-24T12:26:17Z | - |
| dc.date.available | 2021-03-24T12:26:17Z | - |
| dc.date.issued | 2020 | |
| dc.identifier.citation | Материалы и структуры современной электроники : материалы IX Междунар. науч. конф., Минск, 14–16 окт. 2020 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2020. – С. 21-25. | |
| dc.identifier.isbn | 978-985-881-073-3 | |
| dc.identifier.uri | https://elib.bsu.by/handle/123456789/257308 | - |
| dc.description | Свойства, диагностика и применение полупроводниковых материалов и структур на их основе | |
| dc.description.abstract | Методом «мгновенного испарения» получены тонкие пленки полупроводникового эвтектического композита InSb-FeSb. Изучены микроструктура, рельеф поверхности, определен элементный состав. Распределение атомов In, Sb и Fe равномерное и соответствует стехиометрическому составу. Подтверждена равномерность нанесения покрытий, оценена толщина наносимого покрытия методом атомно-силовой микроскопии | |
| dc.language.iso | ru | |
| dc.publisher | Минск : БГУ | |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | |
| dc.title | Свойства поверхности тонких пленок эвтектического композита InSb-FeSb | |
| dc.title.alternative | Surface properties of thin films eutectic composite InSb-FeSb / S. M. Baraishuk A. I. Turavets, O. M. Mikhalkovich, R. N. Rahimov, V. K. Dolgiy, D. G. Arasly, A. A. Khalilova | |
| dc.type | conference paper | |
| dc.description.alternative | Thin films of the InSb-FeSb semiconductor eutectic composite were obtained by the "flash evaporation" method. The microstructure and surface relief have been studied, and the elemental composition has been determined. The distribution of In, Sb and Fe atoms is uniform and corresponds to the stoichiometric composition. The uniformity of coating was confirmed, the thickness of the applied coating was estimated by atomic force microscopy | |
| Располагается в коллекциях: | 2020. Материалы и структуры современной электроники | |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.