Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/257308
Заглавие документа: Свойства поверхности тонких пленок эвтектического композита InSb-FeSb
Другое заглавие: Surface properties of thin films eutectic composite InSb-FeSb / S. M. Baraishuk A. I. Turavets, O. M. Mikhalkovich, R. N. Rahimov, V. K. Dolgiy, D. G. Arasly, A. A. Khalilova
Авторы: Барайшук, С. М.
Туравец, А. И.
Михалкович, О. М.
Рагимов, Р. Н.
Долгий, В. К.
Араслы, Д. Г.
Халилова, А. А.
Тема: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Дата публикации: 2020
Издатель: Минск : БГУ
Библиографическое описание источника: Материалы и структуры современной электроники : материалы IX Междунар. науч. конф., Минск, 14–16 окт. 2020 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2020. – С. 21-25.
Аннотация: Методом «мгновенного испарения» получены тонкие пленки полупроводникового эвтектического композита InSb-FeSb. Изучены микроструктура, рельеф поверхности, определен элементный состав. Распределение атомов In, Sb и Fe равномерное и соответствует стехиометрическому составу. Подтверждена равномерность нанесения покрытий, оценена толщина наносимого покрытия методом атомно-силовой микроскопии
Аннотация (на другом языке): Thin films of the InSb-FeSb semiconductor eutectic composite were obtained by the "flash evaporation" method. The microstructure and surface relief have been studied, and the elemental composition has been determined. The distribution of In, Sb and Fe atoms is uniform and corresponds to the stoichiometric composition. The uniformity of coating was confirmed, the thickness of the applied coating was estimated by atomic force microscopy
Доп. сведения: Свойства, диагностика и применение полупроводниковых материалов и структур на их основе
URI документа: https://elib.bsu.by/handle/123456789/257308
ISBN: 978-985-881-073-3
Располагается в коллекциях:2020. Материалы и структуры современной электроники

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
21-25.pdf1,27 MBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.