Радиационные эффекты в кремниевых фотоэлектронных умножителях

Огородников, Д. А.; Богатырев, Ю. В.; Кетько, А. В.; Ластовский, С. Б.; Лемешевская, А. М.; Цымбал, В. С.

Issue Date Author Title Subject

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/257300

Title:	Радиационные эффекты в кремниевых фотоэлектронных умножителях
Other Titles:	Radiation effects in silicon photoelectron multipliers / D. A. Ogorodnikov, Yu. V. Bogatyrev, A. V. Ket’ko, S. B. Lastovskij, A. M. Lemeshevskaja, V. S. Tsymbal
Authors:	Огородников, Д. А. Богатырев, Ю. В. Кетько, А. В. Ластовский, С. Б. Лемешевская, А. М. Цымбал, В. С.
Keywords:	ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Issue Date:	2020
Publisher:	Минск : БГУ
Citation:	Материалы и структуры современной электроники : материалы IX Междунар. науч. конф., Минск, 14–16 окт. 2020 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2020. – С. 189-192.
Abstract:	Представлены результаты экспериментальных исследований токовых параметров малогабаритных кремниевых фотоэлектронных умножителей (Si ФЭУ) при воздействии гамма-излучения Со60 . Установлено, что наиболее сильные изменения в результате облучения наблюдаются для обратной вольтамперной характеристики образцов Si ФЭУ, облучаемых в активном электрическом режиме
Abstract (in another language):	Effects of experimental researches of current parameters of small-sized silicon photoelectron multipliers under the influence of Co60 gamma radiation are presented. It was found that the strongest changes as a result of an irradiation are observed for a reverse current-voltage characteristic of samples Si photoelectron multipliers irradiated in the active electrical mode
Description:	Дефектно-примесная инженерия. Радиационные эффекты в полупроводниках
URI:	https://elib.bsu.by/handle/123456789/257300
ISBN:	978-985-881-073-3
Appears in Collections:	2020. Материалы и структуры современной электроники

Files in This Item:

File	Description	Size	Format
189-192.pdf		478,66 kB	Adobe PDF	View/Open

Show full item record Google Scholar