Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/257272| Title: | Моделирование структуры р–n+-перехода в декартовой и цилиндрической системах координат |
| Other Titles: | р–n+-junction structure simulation in Cartesian and cylindrical coordinate systems / N. L. Lagunovich |
| Authors: | Лагунович, Н. Л. |
| Keywords: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
| Issue Date: | 2020 |
| Publisher: | Минск : БГУ |
| Citation: | Материалы и структуры современной электроники : материалы IX Междунар. науч. конф., Минск, 14–16 окт. 2020 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2020. – С. 77-81. |
| Abstract: | Разработаны программы для одно-, двух- и трёхмерного моделирований технологических процессов изготовления и измерения вольт-амперных характеристик полупроводниковых приборных структур. Сравнительный анализ результатов моделирования показал, что для рассматриваемого p–n + -перехода разница в значениях технологических и электрофизических параметров при расчётах в декартовой и цилиндрической системах координат незначительна и ею можно пренебречь. Следовательно, рассматриваемую структуру можно моделировать в обеих системах координат с достаточно высокой степенью точности |
| Abstract (in another language): | Consequently programs for one-, two- and three-dimensional simulation of manufacturing processes and volt-ampere characteristics of semiconductor device structures were developed. The main aim of this work was to perform two-dimensional modeling of a p–n + -type junction in silicon in both Cartesian (rectangular) and cylindrical coordinate systems. The comparative analysis of simulation results showed that for the considered p–n + -junction the difference in the values of technological and electrophysical parameters for calculating in Cartesian and cylindrical coordinate systems is insignificant and can be ignored. Therefore, the structure under consideration can be modeled in both coordinate systems with the sufficiently fine precision |
| Description: | Свойства, диагностика и применение полупроводниковых материалов и структур на их основе |
| URI: | https://elib.bsu.by/handle/123456789/257272 |
| ISBN: | 978-985-881-073-3 |
| Appears in Collections: | 2020. Материалы и структуры современной электроники |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.