Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/257261
Заглавие документа: Асимптотический метод расчета индикатрисы рассеяния на поверхности с предельно крупными неровностями
Другое заглавие: Asymptotic method for calculating the scattering indicatrix on extremely large surface roughness / V. V. Sergentu
Авторы: Серженту, В. В.
Тема: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Дата публикации: 2020
Издатель: Минск : БГУ
Библиографическое описание источника: Материалы и структуры современной электроники : материалы IX Междунар. науч. конф., Минск, 14–16 окт. 2020 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2020. – С. 463-467.
Аннотация: Рассмотрен метод вычисления индикатрисы рассеяния на поверхности сверхпроводника с предельно крупными неровностями. Неровности описываются гауссовской функцией распределения для наклонов поверхности. Показано, что при увеличении средней квадратичной величины наклонов индикатриса рассеяния изменяется от диффузного к раcпределению Ламперта. Переход носит пороговый характер. Вблизи порога наблюдается небольшое обратное рассеяние
Аннотация (на другом языке): A method of evaluation the scattering indicatrix on the superconductor surface with extremely large surface roughness is considered. Roughness are described by a Gaussian distribution function for surface slopes. It is shown that with an increase in the root mean square value of the slopes the scattering indicatrix changes from diffuse to Lampert distribution. The transition is of a threshold nature. There is little retroreflection near the threshold
Доп. сведения: Вопросы преподавания и обучения физике полупроводников и наноэлектронике. Социально-экологические вопросы современной электроники
URI документа: https://elib.bsu.by/handle/123456789/257261
ISBN: 978-985-881-073-3
Финансовая поддержка: Работа выполнена при поддержке совместного Молдавско-Белорусского проекта № 19.80013.50.07.03A/BL
Располагается в коллекциях:2020. Материалы и структуры современной электроники

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
463-467.pdf543,3 kBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.