Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/257261
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorСерженту, В. В.
dc.date.accessioned2021-03-24T12:26:07Z-
dc.date.available2021-03-24T12:26:07Z-
dc.date.issued2020
dc.identifier.citationМатериалы и структуры современной электроники : материалы IX Междунар. науч. конф., Минск, 14–16 окт. 2020 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2020. – С. 463-467.
dc.identifier.isbn978-985-881-073-3
dc.identifier.urihttps://elib.bsu.by/handle/123456789/257261-
dc.descriptionВопросы преподавания и обучения физике полупроводников и наноэлектронике. Социально-экологические вопросы современной электроники
dc.description.abstractРассмотрен метод вычисления индикатрисы рассеяния на поверхности сверхпроводника с предельно крупными неровностями. Неровности описываются гауссовской функцией распределения для наклонов поверхности. Показано, что при увеличении средней квадратичной величины наклонов индикатриса рассеяния изменяется от диффузного к раcпределению Ламперта. Переход носит пороговый характер. Вблизи порога наблюдается небольшое обратное рассеяние
dc.description.sponsorshipРабота выполнена при поддержке совместного Молдавско-Белорусского проекта № 19.80013.50.07.03A/BL
dc.language.isoru
dc.publisherМинск : БГУ
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
dc.titleАсимптотический метод расчета индикатрисы рассеяния на поверхности с предельно крупными неровностями
dc.title.alternativeAsymptotic method for calculating the scattering indicatrix on extremely large surface roughness / V. V. Sergentu
dc.typeconference paper
dc.description.alternativeA method of evaluation the scattering indicatrix on the superconductor surface with extremely large surface roughness is considered. Roughness are described by a Gaussian distribution function for surface slopes. It is shown that with an increase in the root mean square value of the slopes the scattering indicatrix changes from diffuse to Lampert distribution. The transition is of a threshold nature. There is little retroreflection near the threshold
Располагается в коллекциях:2020. Материалы и структуры современной электроники

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
463-467.pdf543,3 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.