Logo BSU

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/241608
Title: Радиационно-стимулированная трансформация спектров отражения пленок диазохинон-новолачного фоторезиста при имплантации ионов сурьмы
Other Titles: Radiation Transformation of Diazoquinone-Novolac Photoresist Reflectance Spectra at Antimony Ions Implantation
Authors: Харченко, А. А.
Бринкевич, Д. И.
Просолович, В. С.
Бринкевич, С. Д.
Оджаев, В. Б.
Янковский, В. Н.
Keywords: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Issue Date: 2020
Publisher: Pleiades Publishing, Ltd.
Citation: Поверхность. Рентгеновские, синхротронные и нейтронные исследования, 2020, № 6, с. 1–5.
Abstract: Измерением спектров отражения исследованы имплантированные ионами сурьмы пленки фоторезиста ФП9120 толщиной 1.8 мкм, нанесенные методом центрифугирования на поверхность пластин кремния р-типа (ρ = 10 Ом ⋅ см) с ориентацией (111). Показано, что имплантация приводит к уменьшению показателя преломления фоторезиста, обусловленному радиационным сшиванием молекул новолачной смолы, а также снижением молекулярной рефракции и плотности фоторезиста. В области непрозрачности фоторезистивной пленки при увеличении дозы имплантации наблюдается рост коэффициента отражения.
Abstract (in another language): A method of measuring the reflection spectra was used to study the implantation of photoresist films of the photoluminescence FP9120 with a thickness of 1.8 μm, implanted by antimony ions, deposited by centrifugation on the surface of p-type silicon plates (ρ = 10 Ω cm) with the (111) orientation. It was shown that, implantation leads to the decrease of photoresist refractive index caused by the radiation linkage of novolac resin, as well as the decrease of molecular refraction and photoresist density. In the opacity area of photoresist film reflectance coefficient growth was observed at the increase of implantation dose.
URI: http://elib.bsu.by/handle/123456789/241608
ISSN: 1028-0960
Appears in Collections:Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники (статьи)

Show full item record Google Scholar



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.