Logo BSU

Просмотр Авторы Колос, В. В.

Перейти: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z

А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я

или введите несколько первых символов:  
Результаты 1 - 16 из 16
Предварительный просмотрДата выпускаЗаглавиеАвтор(ы)
2014Диэлектрические характеристики конденсаторных структур на основе пленок титаната стронция, сформированных золь-гель методомСохраби, Анараки Х.; Гапоненко, Н. В.; Руденко, М. В.; Завадский, С. М.; Голосов, Д. А.; Гук, А. Ф.; Колос, В. В.; Петлицкий, А. Н.; Турцевич, А. С.
2022Зарядовые свойства тонких подзатворных диэлектриков, полученных методом быстрой термообработкиКовальчук, Н. С.; Марудо, Ю. А.; Омельченко, А. А.; Пилипенко, В. А.; Солодуха, В. А.; Демидович, С. А.; Колос, В. В.; Анищик, В. М.; Филипеня, В. А.; Шестовский, Д. В.
2016Изменение морфологии платинового электрода на кремнии под воздействием высоких температурГолосов, Д. А.; Окоджи, Д. Э.; Руденков, А. С.; Завадский, С. М.; Мельников, С. Н.; Колос, В. В.
2021ИК прозрачность структур с островковым поверхностным слоем, сформированным методом селективного лазерного отжигаМухаммад, А. И.; Наливайко, В. О.; Кошелев, И. Р.; Ивлев, Г. Д.; Гайдук, П. И.; Наливайко, О. Ю.; Колос, В. В.
2007Импульсная фотонная обработка титана на поверхности кремния под слоем нитрида титанаИевлев, В. М.; Канныкин, С. В.; Колос, В. В.; Кущев, С. Б.; Маркевич, М. И.
2023Импульсное реактивное магнетронное напыление термочувствительных пленок оксида ванадияЗанько, А. И.; Котов, Д. А.; Колос, В. В.; Логунов, К. Т.; Леонович, Н. В.
ноя-2023Инфракрасная Фурье-спектроскопия структур фоторезист/кремний, используемых для обратной литографииБринкевич, Д. И.; Гринюк, Е. В.; Бринкевич, С. Д.; Просолович, В. С.; Колос, В. В.; Зубова, О. А.; Ластовский, С. Б.
2010Исследование воздействия динамических и статических наноструктур на процессы дефектообразования в активных областях приборов : отчет о НИР (заключительный) / БГУ; науч. рук. В. Ф. СтельмахСтельмах, В. Ф.; Адашкевич, С. В.; Дорожок, Е. К.; Колос, В. В.; Маркевич, М. И.
2022Исследования электрофизических свойств тонких подзатворных диэлектриков, полученных методом многостадийного быстрого термического отжигаКовальчук, Н. С.; Омельченко, А. А.; Пилипенко, В. А.; Солодуха, В. А.; Демидович, С. А.; Колос, В. В.; Филипеня, В. А.; Шестовский, Д. В.
2022Оптические и прочностные свойства жертвенных слоев на основе полиимидных пленокВабищевич, С. А.; Вабищевич, Н. В.; Бринкевич, Д. И.; Просолович, В. С.; Колос, В. В.; Зубова, О. А.
2024Плазмонное поглощение инфракрасного излучения в периодических структурах Si /Si3N4 /SiO2 /Si /Al с окошечным поверхностным слоемМухаммад, А. И.; Наливайко, О. Ю.; Колос, В. В.; Гайдук, П. И.
2023Радиационно-индуцированные процессы в пленках негативного фоторезиста на монокристаллическом кремнииБринкевич, Д. И.; Гринюк, Е. В.; Просолович, В. С.; Колос, В. В.; Зубова, О. А.
2023Спектры нарушенного полного внутреннего отражения облученных электронами пленок полиимидаБринкевич, Д. И.; Гринюк, Е. В.; Просолович, В. С.; Колос, В. В.; Зубова, О. А.; Ластовский, С. Б.
2022Спектры нарушенного полного внутреннего отражения пленок негативного фоторезиста NFR 016 D4Бринкевич, Д. И.; Просолович, В. С.; Колос, В. В.; Зубова, О. А.
2016Формирование слоев полицида титана для интегральных микросхем с субмикронными проектными нормамиНаливайко, О. Ю.; Колос, В. В.; Турцевич, А. С.
2010ФОТОДИОД НА ОСНОВЕ ПЕРЕХОДА МЕТАЛЛ-ПОЛУПРОВОДНИК, СОВМЕСТИМЫЙ С КРЕМНИЕВОЙ ТЕХНОЛОГИЕЙЕмельяненко, Ю. С.; Маркевич, М. И.; Чапланов, А. М.; Колос, В. В.; Адашкевич, С. В.; Стельмах, В. Ф.; Карват, Ч.; Жуковски, П.