Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/8272| Заглавие документа: | Atomic Computer Simulations of Defect Migration in 3C and 4H-SIC |
| Авторы: | Gao, F. Weber, W. J. Posselt, M. Belko, V. I. |
| Тема: | ЭБ БГУ::ОБЩЕСТВЕННЫЕ НАУКИ::Информатика |
| Дата публикации: | 2004 |
| URI документа: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/8272 |
| Располагается в коллекциях: | Статьи факультета прикладной математики и информатики |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| abstract_forum_Belko.pdf | 35,62 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.