Logo BSU

Поиск


Текущие фильтры:


Начать новый поиск
Добавить фильтры:

Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.


Результаты 21-30 из 160.
Найденные документы:
Предварительный просмотрДата выпускаЗаглавиеАвтор(ы)
2019Моделирование изменений рабочих характеристик p-МОП транзисторов при воздействии рентгеновского и гамма-излученияЮвченко, В. Н.; Комаров, А. Ф.; Заяц, Г. М.; Мискевич, С. А.
2019Влияние температуры на накопление дефектов в кремнии при облучении протонамиАсадчиков, В. Е.; Дьячкова, И. Г.; Золотов, Д. А.
2019Влияние перераспределения легирующих элементов в алюминиевых сплавах на их фазовые характеристики при облучении мощным ионным пучкомПанова, Т. В.; Ковивчак, В. С.; Михайлов, К. А.
2019Парамагнетизм и структурные свойства облученных ионами фосфора пленок полиэтилентерефталатаОлешкевич, А. Н.; Оджаев, В. Б.; Лапчук, Н. М.; Лапчук, Т. М.; Просолович, В. С.; Бринкевич, Д. И.; Неверовская, А. В.; Стародубец, Е. Е.
2019Водородный перенос слоев кремния на сапфир и кремний c HIGH-K PEALD нанослоями диэлектриковПопов, В. П.; Антонов, В. А.; Гутаковский, А. К.; Тысченко, И. Е.; Мяконьких, А. В.; Руденко, К. В.
2019Оптические и электрические свойства облученных быстрыми реакторными нейтронами кристаллических природных и поликристаллических CVD алмазовКовалев, А. И.; Горбачук, Н. И.; Вырко, С. А.; Поклонский, Н. А.; Козлова, М. В.; Дравин, В. А.; Хомич, А. В.
2019Фотосшивание полимеров для ориентации жидких кристаллов и формирования периодических рельефов высокого разрешенияМогильный, В. В.; Станкевич, А. И.
2019Характеризация методом рор процесса формирования слоев силицида платины при быстрой термообработке системы платина-кремнийСолодуха, В. А.; Мильчанин, О. В.; Пилипенко, В. А.; Ушаков, И. В.; Горушко, В. А.
2019Влияние облучения быстрыми электронами на поперечное сопротивление монокристаллов YBaCuOВовк, Р. В.; Камчатная, С. Н.; Литвинов, Ю. В.; Азаренков, Н. А.; Воеводин, В. Н.
2019Исследование воздействия лазерного излучения на образец, находящийся в жидкостиВасильев, С. В.; Иванов, А. Ю.; Копыцкий, А. В.; Ситкевич, А. Л.