Logo BSU

Поиск


Начать новый поиск
Добавить фильтры:

Используйте фильтры для уточнения результатов поиска.


Результаты 171-180 из 4225.
Найденные документы:
Предварительный просмотрДата выпускаЗаглавиеАвтор(ы)
2017Формирование поверхностного сплава нержавеющая сталь-медь с помощью низкоэнергетического сильноточного электронного пучкаЯковлев, Е. В.; Марков, А. Б.
2017Эффекты наноструктурирования и флекинга покрытий (TiHfZrVNb)N при облучении ионами гелияКонстантинов, С. В.; Опеляк, М.; Погребняк, А. Д.
2017Лазерноиндуцированное формирование ГКР-активных наночастиц серебра на стеклянной подложкеГончаров, В. К.; Козадаев, К. В.; Микитчук, Е. П.
2003Фазовый состав градиентных покрытий Ti-Cr-N, сформированных методом вакуумно-дугового осажденияХодасевич, В. В.; Злоцкий, С. В.; Ухов, В. А.; Козак, Ч.
2017Композиционные углеродосодержащие экраны электромагнитного излученияПулко, Т. А.; Мохамед, А. М.; Прудник, А. М.; Лыньков, Л. М.
2003Образование катодного покрытия в углеродной дуге при давлении p<10 ToppПыжов, И. А.; Смягликов, И. П.; Анищик, В. М.; Шиманович, В. Д.; Золотовский, А. И.
2017Синтез электронными пучковыми технологиями керамик MgF2 и MgF2 (W)Лисицын, В. М.; Карипбаев, Ж. Т.; Мусахано, Д.; Лисицына, Л. А.; Даулетбекова, А. К.; Акилбеков, А. Т.; Голковский, М. Г.; Мархабаева, А. А.
2017Влияние соотношения Al/Ti на структуру и оптические свойства покрытий Ti-Al-C-N, сформированных методом реактивного магнетронного распыленияКлимович, И. М.; Зайков, В. А.; Комаров, Ф. Ф.; Жигулин, Д. В.; Гусейнов, Н. Р.
2003Small-dose effects on electrical characteristics of AIGaN/GaN microwave transistorsBelyaev, A. E.; Konakova, R. V.; Avksentyev, A. Yu.; Kurakin, A. M.; Lytvyn, P. M.; Vitusevich, S. A.; Petrychuk, M. V.; Klein, N.; Danylyuk, S. V.; DaniIchenko, B. A.; TiIak, V.; Smart, J.; Vertiatchikh, A.; Eastman, L. F.
2017Влияние комплексного облучения сильноточными импульсными электронными пучками и упрочнения поверхностным пластическим деформированием на усталостную прочность мишеней из титанового сплава ВТ18УШулов, В. А.; Теряев, А. Д.; Теряев, Д. А.; Ширваньянц, Г. Г.