Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/53274
Заглавие документа: | Калибровка системы трех камер, предназначенная для контроля проводников на подложке микросхемы |
Авторы: | Губчик, И. Н. |
Тема: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
Дата публикации: | 2013 |
Библиографическое описание источника: | Прикладные проблемы оптики, информатики, радиофизики и физики конденсированного состояния. Секция 2 : прикладные проблемы информатики: материалы второй Междунар. науч.-практ. конф., 27 – 28 фев. 2013 г. – Минск, 2013. – С. 104-105 |
Аннотация: | В статье описан метод калибровки системы, которая включает в себя промышленные камеры и используется для визуальной проверки качества электронных изделий, в частности соединительных кон- тактов, перед их компоновкой в микросхему. |
URI документа: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/53274 |
Располагается в коллекциях: | 2013. Прикладные проблемы оптики, информатики, радиофизики и физики конденсированного состояния |
Полный текст документа:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
104-105.pdf | 130,15 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.