Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/53274| Title: | Калибровка системы трех камер, предназначенная для контроля проводников на подложке микросхемы |
| Authors: | Губчик, И. Н. |
| Keywords: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
| Issue Date: | 2013 |
| Citation: | Прикладные проблемы оптики, информатики, радиофизики и физики конденсированного состояния. Секция 2 : прикладные проблемы информатики: материалы второй Междунар. науч.-практ. конф., 27 – 28 фев. 2013 г. – Минск, 2013. – С. 104-105 |
| Abstract: | В статье описан метод калибровки системы, которая включает в себя промышленные камеры и используется для визуальной проверки качества электронных изделий, в частности соединительных кон- тактов, перед их компоновкой в микросхему. |
| URI: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/53274 |
| Appears in Collections: | 2013. Прикладные проблемы оптики, информатики, радиофизики и физики конденсированного состояния |
Files in This Item:
| File | Description | Size | Format | |
|---|---|---|---|---|
| 104-105.pdf | 130,15 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.