Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/53274Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Губчик, И. Н. | - |
| dc.date.accessioned | 2013-11-25T06:58:49Z | - |
| dc.date.available | 2013-11-25T06:58:49Z | - |
| dc.date.issued | 2013 | - |
| dc.identifier.citation | Прикладные проблемы оптики, информатики, радиофизики и физики конденсированного состояния. Секция 2 : прикладные проблемы информатики: материалы второй Междунар. науч.-практ. конф., 27 – 28 фев. 2013 г. – Минск, 2013. – С. 104-105 | ru |
| dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/53274 | - |
| dc.description.abstract | В статье описан метод калибровки системы, которая включает в себя промышленные камеры и используется для визуальной проверки качества электронных изделий, в частности соединительных кон- тактов, перед их компоновкой в микросхему. | ru |
| dc.language.iso | ru | ru |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | ru |
| dc.title | Калибровка системы трех камер, предназначенная для контроля проводников на подложке микросхемы | ru |
| dc.type | Article | ru |
| Располагается в коллекциях: | 2013. Прикладные проблемы оптики, информатики, радиофизики и физики конденсированного состояния | |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 104-105.pdf | 130,15 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.