Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/48732| Заглавие документа: | XPS study of fluorine implantation unduced centres in fused silica |
| Авторы: | Deshkovskaya, A. Shchukarev, A. |
| Тема: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
| Дата публикации: | 2013 |
| Аннотация: | The X-ray photoelectron spectrometry (XPS) was used to study the fused silica surface implanted by fluorine (E=100 keV, F=3x1017 cm2). The study revealed three kinds of centres associated with the implanted atoms. Two of them have similar chemical nature: there fluorine forms octahedra (SiF6 -2) and tetrahedra (SiF4); the third kind of centres basically differs from the first two as, they are not bound with the silicate matrix. |
| URI документа: | http://elib.bsu.by/handle/123456789/48732 |
| Располагается в коллекциях: | 2013. Взаимодействие излучений с твердым телом |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Deshkovskaya.pdf | 1,45 MB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.