Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: http://elib.bsu.by/handle/123456789/48732
Заглавие документа: XPS STUDY OF FLUORINE IMPLANTATION UNDUCED CENTRES IN FUSED SILICA
Авторы: Deshkovskaya, A.
Shchukarev, A.
Тема: ГРНТИ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
ГРНТИ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Дата публикации: 2013
Аннотация: The X-ray photoelectron spectrometry (XPS) was used to study the fused silica surface implanted by fluorine (E=100 keV, F=3x1017 cm2). The study revealed three kinds of centres associated with the implanted atoms. Two of them have similar chemical nature: there fluorine forms octahedra (SiF6 -2) and tetrahedra (SiF4); the third kind of centres basically differs from the first two as, they are not bound with the silicate matrix.
URI документа: http://elib.bsu.by/handle/123456789/48732
Располагается в коллекциях:2013. Взаимодействие излучений с твердым телом

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
Deshkovskaya.pdf1,45 MBAdobe PDFОткрыть


Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.