Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/48732Полная запись метаданных
| Поле DC | Значение | Язык |
|---|---|---|
| dc.contributor.author | Deshkovskaya, A. | - |
| dc.contributor.author | Shchukarev, A. | - |
| dc.date.accessioned | 2013-10-10T12:23:40Z | - |
| dc.date.available | 2013-10-10T12:23:40Z | - |
| dc.date.issued | 2013 | - |
| dc.identifier.uri | http://elib.bsu.by/handle/123456789/48732 | - |
| dc.description.abstract | The X-ray photoelectron spectrometry (XPS) was used to study the fused silica surface implanted by fluorine (E=100 keV, F=3x1017 cm2). The study revealed three kinds of centres associated with the implanted atoms. Two of them have similar chemical nature: there fluorine forms octahedra (SiF6 -2) and tetrahedra (SiF4); the third kind of centres basically differs from the first two as, they are not bound with the silicate matrix. | ru |
| dc.language.iso | en | ru |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | ru |
| dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | ru |
| dc.title | XPS study of fluorine implantation unduced centres in fused silica | ru |
| dc.type | conference paper | ru |
| Располагается в коллекциях: | 2013. Взаимодействие излучений с твердым телом | |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Deshkovskaya.pdf | 1,45 MB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.