Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/345023
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorVabishchevich, N.V.-
dc.contributor.authorBrinkevich, D.I.-
dc.contributor.authorProsolovich, V.S.-
dc.date.accessioned2026-04-06T14:13:42Z-
dc.date.available2026-04-06T14:13:42Z-
dc.date.issued1998-
dc.identifier.citationSemiconductors.1998; Vol. 32(6): P. 640-641.ru
dc.identifier.urihttps://elib.bsu.by/handle/123456789/345023-
dc.description.abstractIt is established by infrared spectroscopy and Hall measurements that the oxygen precipitates formed during preliminary high-temperature treatment suppress the generation of thermal donors in Si grown either by the Czochralski method or by applying a magnetic field to a melt. Possible mechanisms for the influence of precipitation on the formation of thermal donors are proposed. © 1998 American Institute of Physics.ru
dc.language.isoenru
dc.publisherPleiades Publishing, Ltd.ru
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccessru
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физикаru
dc.subjectЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехникаru
dc.titleOxygen precipitates and the formation of thermal donors in siliconru
dc.typearticleru
dc.rights.licenseCC BY 4.0ru
dc.identifier.DOI10.1134/1.1187455.-
dc.identifier.scopus0347718555-
Располагается в коллекциях:Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники (статьи)

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
1.1187455.pdf51,89 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.