Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/340630| Заглавие документа: | Microstructure and phase state of silicon carbide irradiated with helium ions |
| Авторы: | Uglov, V.V. Kholad, V.M. Grinchuk, P.S. Kiyashko, M.M. Ivanov, I.A. Kozlovskiy, A.L. Zdorovets, M.V. |
| Цифровой идентификатор автора ORCID: | 0000-0003-1929-4996 |
| Тема: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехника |
| Дата публикации: | 2022 |
| Издатель: | Kovcheg |
| Библиографическое описание источника: | Plasma physics and plasma technology (PPPT-10) : CONTRIBUTED PAPERS, Minsk, 12–16 сентября 2022 года. – Minsk: «Kovcheg», 2022. – P. 213-216 |
| Аннотация: | The structural and phase state of the initial and irradiated silicon carbide samples was studied by X-ray diffraction analysis (XRD), atomic force microscopy (AFM) and scanning electron microscopy (SEM). |
| URI документа: | https://elib.bsu.by/handle/123456789/340630 |
| Лицензия: | info:eu-repo/semantics/openAccess |
| Располагается в коллекциях: | Кафедра физики твердого тела и нанотехнологий (статьи) |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| Углов5.pdf | 1,13 MB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.