Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/339606
Заглавие документа: Surface Morphology and Optical and Physical Properties of YVO4 Films
Авторы: Bosak, N. A.
Chumakov, A. N.
Baran, L. V.
Malyutina-Bronskaya, V. V.
Raichenok, T. F.
Ivanov, A. A.
Kiris, V. V.
Dyatlova, E. M.
Shevchenok, A. A.
Buka, A. V.
Kuzmitskaya, A. S.
Тема: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Дата публикации: 2025
Издатель: Springer
Библиографическое описание источника: Journal of Applied Spectroscopy. — 2025. — Vol. 92, № 2. — P. 276-281.
Аннотация: Nanostructured thin fi lms on silicon substrate were obtained by high-frequency pulse-periodic (f ~ 13 kHz) action of laser radiation with a wavelength of 1.064 μm and a power density of q = 64 MW/cm2 on yttrium vanadate YVO4 ceramics at a vacuum chamber pressure of p = 3 Pa. The morphology of thin YVO4 fi lms was studied using atomic force microscopy. Transmittance spectra of YVO4 fi lms were obtained in the visible, near, and mid-IR regions. The electrophysical characteristics of YVO4/Si structures were analyzed.
URI документа: https://elib.bsu.by/handle/123456789/339606
DOI документа: 10.1007/s10812-025-01908-y
Лицензия: info:eu-repo/semantics/restrictedAccess
Располагается в коллекциях:Кафедра физики твердого тела и нанотехнологий (статьи)

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
JPS-2_Baran.pdf450,91 kBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.