Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/337706
Заглавие документа: Поглощение ИК-излучение структурами SiNx/Ti/SiNx
Другое заглавие: Absorbtion of IR radiation by structures SiNx/Ti/SiNx / S. V. Kozodoev, S. A. Demidovich, P. I. Gaiduk
Авторы: Козодоев, С. В.
Демидович, С. А.
Гайдук, П. И.
Тема: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехника
Дата публикации: 2025
Издатель: Минск : БГУ
Библиографическое описание источника: Квантовая электроника : материалы XV Междунар. науч.-техн. конф., Минск, 18–20 нояб. 2025 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: А. А. Афоненко (гл. ред.), М. М. Кугейко, А. В. Баркова. – Минск : БГУ, 2025. – С. 256-258.
Аннотация: Методом Фурье спектроскопии обнаружено, что по сравнению с монослоем SiNx, структуры SiNx/Ti/SiNx с поверхностным микрорельефом более эффективно (на 20 – 60 %) поглощают инфракрасное (ИК) излучение в диапазоне 14 – 24 мкм. Показано, что усиление поглощения имеет место для различных топологических рисунков профилированного Ti (рамок, перекрестий). Вместе с тем выявлено более высокое (на 3 – 18 %) поглощение излучения в диапазоне 16 – 24 мкм при использовании поверхностных микроструктур в виде перекрестий
Аннотация (на другом языке): It is found by Fourier spectroscopy that, compared with the SiNx monolayer, SiNx/Ti/SiNx structures with a surface microrelief absorb infrared (IR) radiation in the range of 14 – 24 μm more efficiently (by 20– 60 %). It is shown that an increase in absorption occurs for various topological patterns of profiled Ti (frames, crosshairs). At the same time, a higher (by 3 – 18 %) absorption of radiation in the range of 16 – 24 μm was revealed when using surface microstructures in the form of crosshairs
URI документа: https://elib.bsu.by/handle/123456789/337706
ISBN: 978-985-881-861-6
Лицензия: info:eu-repo/semantics/openAccess
Располагается в коллекциях:2025. Квантовая электроника

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
256-258.pdf1,62 MBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.