Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/329622| Заглавие документа: | Поглощение ИК-излучения перфорированными структурами Si3N4/Ti/Si3N4 |
| Другое заглавие: | IR absorption by perforated structures Si3N4/TI/Si3N4 / S. V. Kozodoev, A. I. Mukhammad, P. I. Gaiduk |
| Авторы: | Козодоев, С. В. Мухаммад, А. И. Гайдук, П. И. |
| Тема: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
| Дата публикации: | 2025 |
| Издатель: | Минск : БГУ |
| Библиографическое описание источника: | Материалы и структуры современной электроники : материалы XI Междунар. науч. конф., Минск, 16–18 окт. 2024 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2025. – С. 462-465. |
| Аннотация: | Методом конечных разностей во временной области рассчитаны спектры поглощения инфракрасного излучения структур Si3N4/Ti/Si3N4 в зависимости от размеров их перфорации. Обнаружено, что для всех структур уровень поглощения составляет более 75 % во всём исследуемом диапазоне длин волн. Показан нелинейный характер зависимости уровня поглощения от диаметра цилиндрической перфорации. Установлено, что модификация профилированных структур Si3N4/Ti/Si3N4 перфорацией может усиливать поглощение в диапазоне 8–8.4 мкм независимо от размера перфорации. Обнаружено, что усиление поглощения в диапазоне 11.2–13.2 мкм происходит в структурах с перфорацией диаметром 1 мкм |
| Аннотация (на другом языке): | The effect of cylindrical perforation size on infrared absorption spectra of Si3N4/Ti/Si3N4 structures obtained by finite difference time domain spectroscopy is investigated. It is found that for all structures the absorption level is higher than 75 % in the entire studied wavelength range. Nonlinear dependence of absorption level on perforation diameter is shown. It is found that modification of profiled Si3N4/Ti/Si3N4 structures by perforation can enhance absorption in the range of 8–8.4 μm regardless of perforation size. It is found that absorption enhancement in the range of 11.2–13.2 μm occurs in structures with perforation diameter of 1 μm |
| Доп. сведения: | Нанотехнологии, наноструктуры, квантовые явления. Наноэлектроника. Приборы на квантовых эффектах |
| URI документа: | https://elib.bsu.by/handle/123456789/329622 |
| ISBN: | 978-985-881-739-8 |
| Финансовая поддержка: | Исследования выполнены в рамках проекта Государственной программы научных исследований «Фотоника и электроника для инноваций» (проект 3.1.2, № ГР 20212702). |
| Лицензия: | info:eu-repo/semantics/openAccess |
| Располагается в коллекциях: | 2024. Материалы и структуры современной электроники |
Полный текст документа:
| Файл | Описание | Размер | Формат | |
|---|---|---|---|---|
| 462-465.pdf | 340,99 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.