Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/329584
Заглавие документа: Барьерные структуры на основе HPHT алмаза: фоточувствительность и ток, индуцированный электронным лучом
Другое заглавие: Barrier structures based on HPHT diamond: photosensitivity and electron beam induced current / A. V. Mazanik, N. M. Kazuchits, M. S. Rusetsky, V. N. Kazuchits
Авторы: Мазаник, А. В.
Казючиц, Н. М.
Русецкий, М. С.
Казючиц, В. Н.
Тема: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Дата публикации: 2025
Издатель: Минск : БГУ
Библиографическое описание источника: Материалы и структуры современной электроники : материалы XI Междунар. науч. конф., Минск, 16–18 окт. 2024 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2025. – С. 297-300.
Аннотация: Посредством полиэнергетической ионной имплантации бора были созданы барьерные структуры в легированных бором синтетических HPHT (синтезированных при высоких давлениях и температурах) алмазах. Формирование барьерной структуры связывается со смещением уровня Ферми в разупорядоченном ионами приповерхностном слое к середине запрещенной зоны. Приготовленные барьерные структуры демонстрировали чувствительность к излучению длиной волны 405 нм и к облучению электронами с энергией 10 кэВ, работая без внешнего источника напряжения
Аннотация (на другом языке): Using multi-energy ion implantation, barrier structures based on boron-doped synthetic HPHT (synthesized at High Pressure and High Temperature) diamonds were prepared. The formation of the barrier structure is related to the shift of the Fermi level in the near surface layer damaged by ions to the middle of band gap. The prepared barrier structures exhibit sensitivity both to 405 nm illumination and 10 keV electron beam irradiation operating without the application of an external bias voltage
Доп. сведения: Дефектно-примесная инженерия. Радиационные эффекты в полупроводниках
URI документа: https://elib.bsu.by/handle/123456789/329584
ISBN: 978-985-881-739-8
Лицензия: info:eu-repo/semantics/openAccess
Располагается в коллекциях:2024. Материалы и структуры современной электроники

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
297-300.pdf501,93 kBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.