Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/329584
Полная запись метаданных
Поле DCЗначениеЯзык
dc.contributor.authorМазаник, А. В.
dc.contributor.authorКазючиц, Н. М.
dc.contributor.authorРусецкий, М. С.
dc.contributor.authorКазючиц, В. Н.
dc.date.accessioned2025-05-22T14:49:14Z-
dc.date.available2025-05-22T14:49:14Z-
dc.date.issued2025
dc.identifier.citationМатериалы и структуры современной электроники : материалы XI Междунар. науч. конф., Минск, 16–18 окт. 2024 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2025. – С. 297-300.
dc.identifier.isbn978-985-881-739-8
dc.identifier.urihttps://elib.bsu.by/handle/123456789/329584-
dc.descriptionДефектно-примесная инженерия. Радиационные эффекты в полупроводниках
dc.description.abstractПосредством полиэнергетической ионной имплантации бора были созданы барьерные структуры в легированных бором синтетических HPHT (синтезированных при высоких давлениях и температурах) алмазах. Формирование барьерной структуры связывается со смещением уровня Ферми в разупорядоченном ионами приповерхностном слое к середине запрещенной зоны. Приготовленные барьерные структуры демонстрировали чувствительность к излучению длиной волны 405 нм и к облучению электронами с энергией 10 кэВ, работая без внешнего источника напряжения
dc.language.isoru
dc.publisherМинск : БГУ
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccess
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
dc.titleБарьерные структуры на основе HPHT алмаза: фоточувствительность и ток, индуцированный электронным лучом
dc.title.alternativeBarrier structures based on HPHT diamond: photosensitivity and electron beam induced current / A. V. Mazanik, N. M. Kazuchits, M. S. Rusetsky, V. N. Kazuchits
dc.typeconference paper
dc.description.alternativeUsing multi-energy ion implantation, barrier structures based on boron-doped synthetic HPHT (synthesized at High Pressure and High Temperature) diamonds were prepared. The formation of the barrier structure is related to the shift of the Fermi level in the near surface layer damaged by ions to the middle of band gap. The prepared barrier structures exhibit sensitivity both to 405 nm illumination and 10 keV electron beam irradiation operating without the application of an external bias voltage
Располагается в коллекциях:2024. Материалы и структуры современной электроники

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
297-300.pdf501,93 kBAdobe PDFОткрыть
Показать базовое описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.