Please use this identifier to cite or link to this item:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/329562
Title: | Чувствительность термоЭДС к деформации в толстопленочных резисторах |
Other Titles: | Strain sensitivity of thermoEMF in thick-film resistors / M. Tursunov, A. Dekhkonov, G. Abdurakhmanov, G. Vokhidova, V. Ksenevich, D. Tashmukhamedova |
Authors: | Турсунов, М. Дехканов, А. Абдурахманов, Г. Вохидова, Г. Ксеневич, В. Ташмухамедова, Д. |
Keywords: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
Issue Date: | 2025 |
Publisher: | Минск : БГУ |
Citation: | Материалы и структуры современной электроники : материалы XI Междунар. науч. конф., Минск, 16–18 окт. 2024 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2025. – С. 199-205. |
Abstract: | Экспериментально показано, что в толстопленочном резисторе чувствительность к механической деформации у термоЭДС в ~ 20–120 раз выше, чем у электропроводности. При этом влияние температуры окружающей среды на термоЭДС незначительно и может быть доведено почти до уровня, характерного для металлических тензодатчиков |
Abstract (in another language): | It has been experimentally shown that the strain sensitivity of thermoEMF of the thick-film resistor is ~ 20–120 times higher than the strain sensitivity of the electrical conductivity. Influence of ambient temperature on thermoEMF can be as small as that of metal strain gauges |
Description: | Свойства, диагностика и применение полупроводниковых материалов и структур на их основе |
URI: | https://elib.bsu.by/handle/123456789/329562 |
ISBN: | 978-985-881-739-8 |
Sponsorship: | Работа выполнена в рамках совместного белорусско-узбекского проекта, финансируемого МИРРУ (№ IL-482109667) и БРФФИ (№ Ф22УЗБ-056) с узбекской и белорусской стороны соответственно, а также в рамках задания ГПНИ 3.02.1 (НИР 4) «Конвергенция-2025». |
Licence: | info:eu-repo/semantics/openAccess |
Appears in Collections: | 2024. Материалы и структуры современной электроники |
Files in This Item:
File | Description | Size | Format | |
---|---|---|---|---|
199-205.pdf | 417,94 kB | Adobe PDF | View/Open |
Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.