Logo BSU

Просмотр "2012. Материалы и структуры современной электроники" Заглавия

Перейти: 0-9 A B C D E F G H I J K L M N O P Q R S T U V W X Y Z

А Б В Г Д Е Ж З И Й К Л М Н О П Р С Т У Ф Х Ц Ч Ш Щ Ъ Ы Ь Э Ю Я

или введите несколько первых символов:  
Результаты 2 - 21 из 47 < предыдущий   следующий >
Предварительный просмотрДата выпускаЗаглавиеАвтор(ы)
2012FABRICATION AND CHARACTERIZATION OF TIN DIOXIDE FILMS DOPED BY FERROMAGNETIC METALSKsenevich, V. K.; Bondarionok, E. A.; Odzhaev, V. B.; Shvarkov, S. D.; Wieck, A. D.
2012INTERSTITIAL BORON-INTERSTITIAL OXYGEN COMPLEX IN SILICON: LOCAL VIBRATIONAL MODE ARACTERIZATIONMurin, L. I.; Markevich, V. P.; Peaker, A. R.
2012АВТОЭЛЕКТРОННАЯ ЭМИССИЯ ИЗ КВАНТОВОРАЗМЕРНОЙ МЕТАЛЛИЧЕСКОЙ ПРОВОЛОКИ В ВАКУУМПоклонский, Н. А.; Вырко, С. А.; Власов, А. Т.; Раткевич, С. В.
2012БЕЗМАСОЧНАЯ ЛИТОГРАФИЯ В ПРОИЗВОДСТВЕ СУБМИКРОННЫХ ИЗДЕЛИЙПлебанович, В. И.
2012БИПОЛЯРОННАЯ ПРЫЖКОВАЯ ЭЛЕКТРОПРОВОДНОСТЬ ПО ДЕФЕКТАМ В САМОКОМПЕНСИРОВАННЫХ ПОЛУПРОВОДНИКАХПоклонский, Н. А.; Вырко, С. А.; Ковалев, А. И.
2012ВЛИЯНИЕ АТМОСФЕРНЫХ ГАЗОВ НА ИЗМЕНЕНИЯ МИКРОТВЕРДОСТИ МОНОКРИСТАЛЛОВ КРЕМНИЯ, ИНДУЦИРУЕМЫЕ БЕТА-ОБЛУЧЕНИЕМДмитриевский, А. А.; Ефремова, Н. Ю.; Кувшинова, А. А.; Ловцов, А. Р.; Гусева, Д. Г.
2012ВЛИЯНИЕ ИОНИЗИРУЮЩЕЙ РАДИАЦИИ НА СУБМИКРОННЫЕ МОП-ТРАНЗИСТОРЫБогатырев, Ю. В.; Коршунов, Ф. П.; Ластовский, С. Б.; Турцевич, А. С.; Шведов, С. В.; Белоус, А. И.
2012ВЛИЯНИЕ ПЛОТНОСТИ МОЩНОСТИ ЛАЗЕРНОГО ИЗЛУЧЕНИЯ НА ХАРАКТЕРИСТИКИ ЗАЩИТНЫХ УГЛЕРОДНЫХ ПОКРЫТИЙ, ОСАЖДЕННЫХ ЛАЗЕРНО-ПЛАЗМЕННЫМ МЕТОДОМГончаров, В. К.; Гусаков, Г. А.; Пузырев, М. В.; Баран, Л. В.; Самцов, М. П.
2012ВЛИЯНИЕ ТЕМПЕРАТУРЫ ОБЛУЧЕНИЯ (ТОБЛ = 320–580 К) БЫСТРЫМИ ЭЛЕКТРОНАМИ НА ЭФФЕКТИВНОСТЬ ФОРМИРОВАНИЯ РАДИАЦИОННЫХ ДЕФЕКТОВ В КРЕМНИИМедведева, И. Ф.; Мурин, Л. И.; Маркевич, В. П.; Коршунов, Ф. П.; Ластовский, С. Б.; Гусаков, В. Е.
2012ВЛИЯНИЕ ТЕРМООБРАБОТКИ И ИОННОГО ЛЕГИРОВАНИЯ НА МЕХАНИЧЕСКИЕ СВОЙСТВА ПЛАСТИН КРЕМНИЯМеженный, М. В.; Резник, В. Я.; Просолович, В. C.; Простомолотов, А. И.
2012ВЛИЯНИЕ ТЕХНОЛОГИЧЕСКИХ ПРИМЕСЕЙ НА ЭЛЕКТРОФИЗИЧЕСКИЕ ПАРАМЕТРЫ n-МОП ТРАНЗИСТОРАКарпович, И. А.; Оджаев, В. Б.; Петлицкий, А. Н.; Просолович, В. С.; Турцевич, А. С.; Шведов, В. С.; Явид, В. Ю.; Янковский, Ю. Н.
2012ВЛИЯНИЕ ХИМИЧЕСКОЙ ОБРАБОТКИ ПОВЕРХНОСТИ КРЕМНИЯ НА ЗАРЯДОВЫЕ СВОЙСТВА ГРАНИЦЫ РАЗДЕЛА ОКСИД ДИСПРОЗИЯ-КРЕМНИЙМалышев, С. А.; Бабушкина, Н. В.; Жигулин, Д. В.; Романова, Л. И.
2012ВЫЗВАННОЕ МАГНИТНЫМ ВОЗДЕЙСТВИЕМ ОБОГАЩЕНИЕ ПОВЕРХНОСТИ КРЕМНИЯ МАГНИТОЧУВСТВИТЕЛЬНЫМИ ПРИМЕСЯМИСтебленко, Л. П.; Плющай, И. В.; Калиниченко, Д. В.; Курилюк, А. Н.; Крит, А. Н.; Трачевский, В. В.
2012ИЗМЕНЕНИЕ ДИНАМИЧЕСКОГО ПОВЕДЕНИЯ ДИСЛОКАЦИЙ В КРИСТАЛЛАХ КРЕМНИЯ ПРИ ВЛИЯНИИ РЕНТГЕНОВСКОГО ОБЛУЧЕНИЯСтебленко, Л. П.; Крит, А. Н.; Курилюк, А. Н.; Калиниченко, Д. В.
2012ИЗМЕРИТЕЛЬНЫЕ РЕЗОНАТОРЫ С СОСРЕДОТОЧЕННЫМИ ПАРАМЕТРАМИ ДЛЯ СПЕКТРОСКОПИИ ЭПРАдашкевич, Сергей Владимирович; Демидчик, В. В.; Маркевич, Мария Ивановна; Стельмах, Вячеслав Фомич; Федорук, Г. Г.
2012ИССЛЕДОВАНИЯ СТМ «АЛМАЗОТ» МЕТОДОМ КОМБИНАЦИОННОГО РАССЕЯНИЯ СВЕТАКазючиц, Н. М.; Наумчик, Е. В.; Русецкий, М. С.; Мазаник, А. В.; Королик, О. В.
2012КОМПЬЮТЕРНАЯ СИСТЕМА РЕГИСТРАЦИИ СПЕКТРОВ ЭПРКиранов, В. С.; Адашкевич, С. В.; Лапчук, Н. М.; Стельмах, В. Ф.
2012ЛАЗЕРНАЯ СПЕКТРОСКОПИЯ ФУНКЦИОНАЛЬНЫХ ПОКРЫТИЙ ПОЛУПРОВОДНИКОВ С СУБМИКРОННЫМ РАЗРЕШЕНИЕМЕрмалицкая, К. Ф.; Воропай, Е. С.
2012МЕЖУЗЕЛЬНАЯ ДИФФУЗИЯ ИОННО-ИМПЛАНТИРОВАННОГО БОРА В КРИСТАЛЛИЧЕСКОМ КРЕМНИИВеличко, О. И.; Ковалева, А. П.
2012МЕМБРАННЫЕ СЕНСОРНЫЕ ЭЛЕМЕНТЫ ИЗ НАНОПОРИСТОГО ОКСИДА АЛЮМИНИЯ ДЛЯ КОНТРОЛЯ ОТНОСИТЕЛЬНОЙ ВЛАЖНОСТИШиманович, Д. Л.; Чушкова, Д. И.; Сокол, В. А.