Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/315247
Заглавие документа: | Моделирование величины паразитного туннельного тока в элементах флеш-памяти |
Авторы: | Жевняк, О. Г. Борздов, В. М. Борздов, А. В. |
Тема: | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Кибернетика ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика |
Дата публикации: | 2024 |
Издатель: | Минск : БГУ |
Библиографическое описание источника: | Компьютерные технологии и анализ данных (CTDA’2024) : материалы IV Междунар. науч.-практ. конф., Минск, 25–26 апр. 2024 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. В. Скакун (гл. ред.), Н. Н. Яцков, В. В. Гринёв. – Минск : БГУ, 2024. – С. 164-167. |
Аннотация: | В настоящей работе c помощью численного моделирования методом Монте-Карло электронного переноса в короткоканальных МОП-транзисторах с плавающим затвором, лежащих в основе работы современных элементов флеш-памяти, рассчитаны зависимости относительной величины паразитного туннельного тока от координаты вдоль проводящего канала транзистора. Рассмотрено влияние на них изменения формы потенциального барьера вдоль канала, а также энергии и дрейфовой скорости электронов. Показано, что эти зависимости имеют слабо выраженный U-образный вид |
Доп. сведения: | Секция «Компьютерное моделирование процессов и систем» |
URI документа: | https://elib.bsu.by/handle/123456789/315247 |
ISBN: | 978-985-881-636-0 |
Лицензия: | info:eu-repo/semantics/openAccess |
Располагается в коллекциях: | 2024. Компьютерные технологии и анализ данных (CTDA’2024) |
Полный текст документа:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
164-167.pdf | 542,39 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.