Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/315247
Заглавие документа: Моделирование величины паразитного туннельного тока в элементах флеш-памяти
Авторы: Жевняк, О. Г.
Борздов, В. М.
Борздов, А. В.
Тема: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Кибернетика
ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Дата публикации: 2024
Издатель: Минск : БГУ
Библиографическое описание источника: Компьютерные технологии и анализ данных (CTDA’2024) : материалы IV Междунар. науч.-практ. конф., Минск, 25–26 апр. 2024 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. В. Скакун (гл. ред.), Н. Н. Яцков, В. В. Гринёв. – Минск : БГУ, 2024. – С. 164-167.
Аннотация: В настоящей работе c помощью численного моделирования методом Монте-Карло электронного переноса в короткоканальных МОП-транзисторах с плавающим затвором, лежащих в основе работы современных элементов флеш-памяти, рассчитаны зависимости относительной величины паразитного туннельного тока от координаты вдоль проводящего канала транзистора. Рассмотрено влияние на них изменения формы потенциального барьера вдоль канала, а также энергии и дрейфовой скорости электронов. Показано, что эти зависимости имеют слабо выраженный U-образный вид
Доп. сведения: Секция «Компьютерное моделирование процессов и систем»
URI документа: https://elib.bsu.by/handle/123456789/315247
ISBN: 978-985-881-636-0
Лицензия: info:eu-repo/semantics/openAccess
Располагается в коллекциях:2024. Компьютерные технологии и анализ данных (CTDA’2024)

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
164-167.pdf542,39 kBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.