Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ:
https://elib.bsu.by/handle/123456789/315247
Полная запись метаданных
Поле DC | Значение | Язык |
---|---|---|
dc.contributor.author | Жевняк, О. Г. | |
dc.contributor.author | Борздов, В. М. | |
dc.contributor.author | Борздов, А. В. | |
dc.date.accessioned | 2024-06-28T12:11:11Z | - |
dc.date.available | 2024-06-28T12:11:11Z | - |
dc.date.issued | 2024 | |
dc.identifier.citation | Компьютерные технологии и анализ данных (CTDA’2024) : материалы IV Междунар. науч.-практ. конф., Минск, 25–26 апр. 2024 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. В. Скакун (гл. ред.), Н. Н. Яцков, В. В. Гринёв. – Минск : БГУ, 2024. – С. 164-167. | |
dc.identifier.isbn | 978-985-881-636-0 | |
dc.identifier.uri | https://elib.bsu.by/handle/123456789/315247 | - |
dc.description | Секция «Компьютерное моделирование процессов и систем» | |
dc.description.abstract | В настоящей работе c помощью численного моделирования методом Монте-Карло электронного переноса в короткоканальных МОП-транзисторах с плавающим затвором, лежащих в основе работы современных элементов флеш-памяти, рассчитаны зависимости относительной величины паразитного туннельного тока от координаты вдоль проводящего канала транзистора. Рассмотрено влияние на них изменения формы потенциального барьера вдоль канала, а также энергии и дрейфовой скорости электронов. Показано, что эти зависимости имеют слабо выраженный U-образный вид | |
dc.language.iso | ru | |
dc.publisher | Минск : БГУ | |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/openAccess | |
dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Кибернетика | |
dc.subject | ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика | |
dc.title | Моделирование величины паразитного туннельного тока в элементах флеш-памяти | |
dc.type | conference paper | |
Располагается в коллекциях: | 2024. Компьютерные технологии и анализ данных (CTDA’2024) |
Полный текст документа:
Файл | Описание | Размер | Формат | |
---|---|---|---|---|
164-167.pdf | 542,39 kB | Adobe PDF | Открыть |
Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.