Logo BSU

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/302357
Title: Моделирование влияния стокового напряжения на форму потенциального барьера в элементах флеш-памяти
Authors: Жевняк, О. Г.
Борздов, А. В.
Борздов, В. М.
Keywords: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Issue Date: 2023
Citation: Прикладные проблемы оптики, информатики, радиофизики и физики конденсированного состояния : материалы VII Междунар. науч.-практ. конференции, посвященной 120-летию со дня рождения академика Антона Никифоровича Севченко, 18–19 мая 2023 г., Минск / НИУ «Ин-т приклад. физ. проблем им. А. Н. Севченко» БГУ ; [редкол.: Ю. И. Дудчик (гл. ред.), И. М. Цикман, И. Н. Кольчевская]. – Минск, 2023. – С. 294-296.
Abstract: Представлены результаты моделирования процессов переноса электронов в короткоканальном кремниевом МОП-транзисторе с плавающим затвором, являющимся базовым элементом флеш-памяти. Изучено влияние напряжения на стоке на форму потенциального барьера туннельного оксида, определяющего уровень паразитного туннельного тока в такого рода элементах. Рассчитаны зависимости отношения паразитного туннельного тока к току стока от координаты вдоль проводящего канала транзистора
Description: Секция 4. Прикладные проблемы физики конденсированного состояния
URI: https://elib.bsu.by/handle/123456789/302357
Licence: info:eu-repo/semantics/openAccess
Number, date deposit: №007528082023, Деп. в БГУ 28.08.2023
Appears in Collections:2023. Прикладные проблемы оптики, информатики, радиофизики и физики конденсированного состояния

Files in This Item:
File Description SizeFormat 
294-296.pdf348,35 kBAdobe PDFView/Open
Show full item record Google Scholar



Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.