Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/271134
Заглавие документа: Carrier Transport Mechanisms in Ion-Implanted Silicon-on-Insulator Structures with InSb Clusters
Авторы: Fedotov, Alexander K.
Tyschenko, Ida
Fedotova, Julia
Pashkewich, Alexey
Svito, Ivan
Тема: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Дата публикации: 2021
Издатель: Минск : БГУ
Библиографическое описание источника: Взаимодействие излучений с твердым телом : материалы 14-й Междунар. конф., посвящ. 100-летию Белорус. гос. ун-та, Минск, Беларусь, 21-24 сент. 2021 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. В. Углов (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2021. – С. 388-391.
Аннотация: In this paper, we examine carrier transport mechanisms in Silicon-on-Insulator (SOI) structures, containing InSb nanoparticles in SiO2 layer, before and after annealing at 1273 K. The comparison of temperature dependences of current-voltage (I-V) characteristics allowed us to determine the mechanisms of carrier transport (hopping and zone-like) in this nanostructures and estimate some transport parameters in the temperature range of 2-300 K. The measurements have confirmed the presence of Fouler-Nordheim and hopping mechanism contributions into low-temperature I-V characteristics of the studied SOI structures
Доп. сведения: Секция 4. Формирование наноматериалов и наноструктур = Section 4. Formation of nanomaterials and nanostructures
URI документа: https://elib.bsu.by/handle/123456789/271134
ISSN: 2663-9939 (Print)
2706-9060 (Online)
Располагается в коллекциях:2021. Взаимодействие излучений с твердым телом

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
388-391.pdf419,05 kBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.