Logo BSU

Пожалуйста, используйте этот идентификатор, чтобы цитировать или ссылаться на этот документ: https://elib.bsu.by/handle/123456789/257349
Заглавие документа: Структурно-фазовый состав и люминесценция слоев SiO2, имплантированных ионами Zn и (Zn+O): влияние режимов имплантации и термообработки
Другое заглавие: Structural-phase composition and luminescence of SiO2 layers implanted with Zn and (Zn+O) ions: effect of implantation and annealing regimes / М. А. Мakhavikou, F. F. Komarov, О. V. Milchanin, I. N. Parkhomenko, L. А. Vlasukova, J. Żuk, E. Wendler, А. V. Mudryi, D. S. Korolev
Авторы: Моховиков, М. А.
Комаров, Ф. Ф.
Мильчанин, О. В.
Пархоменко, И. Н.
Власукова, Л. А.
Żuk, J.
Wendler, E.
Мудрый, А. В.
Королев, Д. С.
Тема: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
Дата публикации: 2020
Издатель: Минск : БГУ
Библиографическое описание источника: Материалы и структуры современной электроники : материалы IX Междунар. науч. конф., Минск, 14–16 окт. 2020 г. / Белорус. гос. ун-т ; редкол.: В. Б. Оджаев (гл. ред.) [и др.]. – Минск : БГУ, 2020. – С. 374-377.
Аннотация: Работа посвящена структурным и оптическим исследованиям слоев диоксида кремния после высокодозной имплантации ионов Zn и Zn+O и термообработки. Методом электронной дифракции установлено, что имплантация ионами Zn с последующей термообработкой приводит к формированию фазы ромбического Zn2SiO4 (R-3), а при двойной имплантации (Zn+ ↓+ O+ ↓) наблюдается формирование фазы кубического ZnO (F-43m). Показано, что фотолюминесценция нанокомпозитов (SiO2+Zn) и (SiO2+Zn+O) связана с образованием радиационных дефектов в матрице SiO2 в результате имплантации. Последующая термообработка приводит к тушению фотолюминесценции для образцов, имплантированных только ионами цинка, и к росту интенсивности свечения для образцов с двойной имплантацией. Показано, что свечение обусловлено радиационными дефектами и образованием фаз кристаллического Zn2SiO4 и ZnO для образцов, имплантированных только цинком и Zn+O соответственно
Аннотация (на другом языке): This work is devoted to the structural and optical studies of silicon dioxide layers after high-fluence implantation of Zn and (Zn+O) ions followed by annealing. It was found that implantation with Zn ions followed by furnace annealing results in the formation of orthorhombic Zn2SiO4 phase (space group R-3), and the implantation with Zn and O ions with subsequent annealing results in zinc blende ZnO phase (space group F-43m) formation. It has been shown, that the nature of photoluminescence of ion-beam synthesized (SiO2+Zn) and (SiO2+Zn+O) nanocomposites is associated with the formation of radiative defects in SiO2 matrix. Subsequent annealing results in a decrease of photoluminescence intensity for the samples implanted with zinc, and an increase of emission intensity for the double implanted samples. The observed luminescence can be assigned to radiative defects and formation of crystalline phases of Zn2SiO4 and ZnO for samples implanted only with Zn ions and with Zn+O ions, respectively
Доп. сведения: Нанотехнологии, наноструктуры, квантовые явления. Наноэлектроника. Приборы на квантовых эффектах
URI документа: https://elib.bsu.by/handle/123456789/257349
ISBN: 978-985-881-073-3
Финансовая поддержка: Исследования выполнены в рамках проекта 3.5.05 ГПНИ «Фотоника, опто- и микроэлектроника» (номер госрегистрации 20191830) и грантов БРФФИ (№ Т19РМ-041) и РФФИ (19-57-04005)
Располагается в коллекциях:2020. Материалы и структуры современной электроники

Полный текст документа:
Файл Описание РазмерФормат 
374-377.pdf1,39 MBAdobe PDFОткрыть
Показать полное описание документа Статистика Google Scholar



Все документы в Электронной библиотеке защищены авторским правом, все права сохранены.