Logo BSU

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/256854
Title: Измерения параметров полупроводниковых структур: учебная программа УВО по учебной дисциплине для специальности 1-31 04 07 Физика наноматериалов и нанотехнологий. № УД-9310/уч.
Authors: Пилипенко, Владимир Александрович
Keywords: ЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физика
ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехника
ЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Приборостроение
Issue Date: 30-Sep-2020
Publisher: Физический факультет, кафедра физики полупроводников и наноэлектроники
Abstract: Курс призван максимально широко представить аппаратуру современных методов контроля материалов электронной техники, показать конструктивные особенности и принципы проведения различных видов измерений и способы подготовки образцов для измерений. В курсе рассматриваются основные факторы, влияющие на качество изготавливаемых интегральных микросхем. Приводится классификация современных методов контроля, используемых в микроэлектронике. Отражены этапы в развитии материалов, используемых в электронике, характеризуемые целенаправленными усилиями по изучению свойств широкого спектра новых материалов и структур, получивших общее наименование наноматериалы.
URI: https://elib.bsu.by/handle/123456789/256854
Appears in Collections:Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники



PlumX

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.