Logo BSU

Please use this identifier to cite or link to this item: https://elib.bsu.by/handle/123456789/256854
Full metadata record
DC FieldValueLanguage
dc.contributor.authorПилипенко, Владимир Александрович-
dc.date.accessioned2021-03-04T13:37:56Z-
dc.date.available2021-03-04T13:37:56Z-
dc.date.issued2020-09-30-
dc.identifier.urihttps://elib.bsu.by/handle/123456789/256854-
dc.description.abstractКурс призван максимально широко представить аппаратуру современных методов контроля материалов электронной техники, показать конструктивные особенности и принципы проведения различных видов измерений и способы подготовки образцов для измерений. В курсе рассматриваются основные факторы, влияющие на качество изготавливаемых интегральных микросхем. Приводится классификация современных методов контроля, используемых в микроэлектронике. Отражены этапы в развитии материалов, используемых в электронике, характеризуемые целенаправленными усилиями по изучению свойств широкого спектра новых материалов и структур, получивших общее наименование наноматериалы.ru
dc.language.isoruru
dc.publisherФизический факультет, кафедра физики полупроводников и наноэлектроникиru
dc.subjectЭБ БГУ::ЕСТЕСТВЕННЫЕ И ТОЧНЫЕ НАУКИ::Физикаru
dc.subjectЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Электроника. Радиотехникаru
dc.subjectЭБ БГУ::ТЕХНИЧЕСКИЕ И ПРИКЛАДНЫЕ НАУКИ. ОТРАСЛИ ЭКОНОМИКИ::Приборостроениеru
dc.titleИзмерения параметров полупроводниковых структур: учебная программа УВО по учебной дисциплине для специальности 1-31 04 07 Физика наноматериалов и нанотехнологий. № УД-9310/уч.ru
dc.typesyllabusru
dc.rights.licenseCC BY 4.0ru
Appears in Collections:Кафедра физики полупроводников и наноэлектроники



PlumX

Items in DSpace are protected by copyright, with all rights reserved, unless otherwise indicated.